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當(dāng)前位置:北京普析通用儀器有限責(zé)任公司>>熒光分析儀>>全反射X射線熒光分析儀>> XRF6能量射線熒光光譜儀
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更新時(shí)間:2021-11-16 13:01:16瀏覽次數(shù):238次
聯(lián)系我時(shí),請(qǐng)告知來(lái)自 環(huán)保在線優(yōu)質(zhì)供應(yīng)全反射X射線熒光光譜儀
XRF6能量射線熒光光譜儀,既可以對(duì)大量樣品進(jìn)行無(wú)損檢測(cè),也可以對(duì)塊狀固體,固體粉末和液體樣品等進(jìn)行實(shí)驗(yàn)室級(jí)別的元素分析。很適宜于針對(duì)RoHS指令的多元素測(cè)試。
主要技術(shù)指標(biāo)
分析原理 能量色散X射線熒光分析法
分析元素 Si~U(Cd/Pb/Cr/Hg/Br高精度型)
Na~U(任選:φ1.2mm/φ0.1mm切換方式型)
檢出下限 Cd/Pb/Hg/Br/Cr≤5ppm
樣品形狀 大460×380mm(高150mm)
樣品 塑料/金屬/紙/涂料/油墨/液體
樣品室氣氛 大氣
X射線管 靶材 Rh
管電壓 大50KV
管電流 大1mA
X射線照射徑 1/3/5mm
防護(hù) <0.1mR/Hr (輻射低于電腦屏幕)
檢測(cè)器 硅SIPIN探測(cè)器
光學(xué)圖像觀察 倍率15倍
軟件 定性分析:自動(dòng)定性(自動(dòng)去背景/自動(dòng)剝離重疊峰/自動(dòng)補(bǔ)償逃逸峰/自動(dòng)補(bǔ)償譜圖漂移)
照射徑: 1/3/5mm
定量分析: 基礎(chǔ)參數(shù)法/標(biāo)準(zhǔn)法/1點(diǎn)校正
計(jì)算機(jī) CPU PentiumIV1.8GHz以上
內(nèi)存 256MB以上
硬盤 20GB以上
OS WindowXP
監(jiān)視器 17寸LCD
周圍溫度 10~35。C(性能溫度)/5~40。C(動(dòng)作溫度)
周圍濕度 5~31。C時(shí)溫度范圍:大相對(duì)濕度80%以下
31~40。C時(shí)溫度范圍:相對(duì)濕度50%以下
電源 AC110V/220V±10%、50/60HZ
消耗電力 1.3KVA以下(含計(jì)算機(jī)、LCD、打印機(jī))
設(shè)備重量 約65kg(不含桌子、計(jì)算機(jī))
外形寸法 600(W)×545(D)×435(H)mm
特點(diǎn):
· 采用進(jìn)口高分辨率探測(cè)器
· 準(zhǔn)確:分析精度高,放心安心的檢測(cè)結(jié)果。
· 快速:對(duì)樣品無(wú)特殊要求,可直接測(cè)試,通常在60-100S之間即可確定飾品所含金、銀、鉑、鈀、銅、鋅、鎳、銥的含量。
· 簡(jiǎn)單:完善的自動(dòng)化測(cè)試功能實(shí)現(xiàn)真正的一鍵式操作,無(wú)需任何形式培訓(xùn),即用即會(huì)。
· 無(wú)損:非破壞性的無(wú)損飾品檢測(cè)。
· 經(jīng)濟(jì):直接測(cè)試飾品,無(wú)須耗材,節(jié)約成本。
· 安全:光閘系統(tǒng)同X射線聯(lián)鎖安全裝置互動(dòng),確保人員安全。
· 標(biāo)準(zhǔn):測(cè)試結(jié)果*符合國(guó)標(biāo)GB/T 18043-2013的精度要求。
XRF6能量射線熒光光譜儀定量分析
A,F(xiàn)P基礎(chǔ)參數(shù)法
B,標(biāo)準(zhǔn)法
C,1點(diǎn)校正
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