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當前位置:北京普析通用儀器有限責任公司>>熒光分析儀>>全反射X射線熒光分析儀>> 能量色散型X射線熒光分析儀XRF9
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優(yōu)質(zhì)供應(yīng)全反射X射線熒光光譜儀
能量色散型X射線熒光分析儀XRF9在測定微量成分時,由于X射線管的連續(xù)X射線所產(chǎn)生的散射線會產(chǎn)生較大的背景,致使目標峰的觀測比較困難。為了降低或消除背景和特征譜線等的散射X射線對高靈敏度分析的影響,此熒光分析儀配置了4種可自動切換的濾光片,有效地降低了背景和散射X射線的干擾,調(diào)整出具感度的輻射,進一步提高了S/N的比值,從而可以進行更高靈敏度的微量分析。
能量色散型X射線熒光分析儀XRF9特點:
· 采用多光束可調(diào)節(jié)系統(tǒng)
· 高分辨率探測器
· 采用XYZ三維運動樣品臺
· 大型樣品分析室
· CCD攝像及自動定位系統(tǒng)
· 自動調(diào)節(jié)雙層六通道濾光系統(tǒng)
主要技術(shù)指標
分析原理 能量色散X射線熒光分析法
分析元素 Si~U(Cd/Pb/Cr/Hg/Br高精度型)
Na~U(任選:φ1.2mm/φ0.1mm切換方式型)
檢出下限 Cd/Pb/Hg/Br/Cr≤5ppm
樣品形狀 大460×380mm(高150mm)
樣品 塑料/金屬/紙/涂料/油墨/液體
樣品室氣氛 大氣
X射線管 靶材 Rh
管電壓 大50KV
管電流 大1mA
X射線照射徑 1/3/5mm
防護 <0.1mR/Hr (輻射低于電腦屏幕)
檢測器 硅SIPIN探測器
光學圖像觀察 倍率15倍
軟件 定性分析:自動定性(自動去背景/自動剝離重疊峰/自動補償逃逸峰/自動補償譜圖漂移)
照射徑: 1/3/5mm
定量分析: 基礎(chǔ)參數(shù)法/標準法/1點校正
計算機 CPU PentiumIV1.8GHz以上
內(nèi)存 256MB以上
硬盤 20GB以上
OS WindowXP
監(jiān)視器 17寸LCD
周圍溫度 10~35。C(性能溫度)/5~40。C(動作溫度)
周圍濕度 5~31。C時溫度范圍:大相對濕度80%以下
31~40。C時溫度范圍:相對濕度50%以下
電源 AC110V/220V±10%、50/60HZ
消耗電力 1.3KVA以下(含計算機、LCD、打印機)
設(shè)備重量 約65kg(不含桌子、計算機)
外形寸法 600(W)×545(D)×435(H)mm
售后服務(wù)
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