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XT-50 沖擊試樣缺口投影儀

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產品型號XT—50

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更新時間：2024-02-16 15:23:08瀏覽次數：202次

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產品簡介

XT-50 沖擊試樣缺口投影儀,執(zhí)行《金屬夏比沖擊試驗方法》該標準對試樣要求相當嚴格，所以在整個試驗過程中，試樣的加工是否合格會直接影響終的試驗結果。為保證試樣缺口的合格，其質量檢驗是一個重要的控制手段，目前，用光學投影放大檢驗是切實可行的方法。

詳細介紹

一、概述

隨著國內工業(yè)技術的發(fā)展，越來越多的行業(yè)已經開始執(zhí)行《金屬夏比沖擊試驗方法》該標準對試樣要求相當嚴格，所以在整個試驗過程中，試樣的加工是否合格會直接影響終的試驗結果。如果試樣加工質量不合格，那么其試驗結果是不可信的，特別是試樣缺口的微小變化可能會引起試驗結果的巨大陡跳，尤其是在試驗的臨界值時，會引起產品的合格或報廢兩種截然相反的不同結局。為保證試樣缺口的合格，其質量檢驗是一個重要的控制手段，目前，用光學投影放大檢驗是切實可行的方法。

XT-50 沖擊試樣缺口投影儀是我公司根據廣大用戶的實際需要和GB/T299-1994《金屬夏比沖擊試驗方法》中對沖擊試樣缺口的要求而開發(fā)的一種專用于檢驗夏比V型和U性型缺口加工質量的光學儀器，該儀器是利用光學投影方法將被測的沖擊試樣V型和U型缺口輪廓放大50倍后投射到投影屏上，與投影屏上的沖擊試樣V型和U型缺口標準樣板圖對比，以確定被檢測的試樣缺口是否合格。其優(yōu)點是操作簡便，對比直觀。

二、工作原理：

本投影儀光源發(fā)出的光線經聚光鏡照射到被測物體，再經物鏡將被照射物體放大的輪廓投射到投影屏上。

根據需要，本儀器為單一投射照明，光源通過一系列光學元件投射在工作臺上，再通過一系列光學元件將被測試樣缺口輪廓清晰的投射到投影儀上。物體經二次放大和二次反射成正像，在投影屏上所看到的圖形與實際試樣放置的方位一致。

三、主要參數：

投影屏直徑：	180mm
工作臺尺寸：
方工作臺尺寸：	110×125mm
圓工作臺直徑：	90mm
工作臺玻璃直徑：	70mm
工作臺行程：
縱向：	± 10mm
橫向：	± 10mm
升降：	± 12mm （無刻度）
工作臺轉動范圍：	0-360 °（無刻度）
放大倍數：
儀器放大倍率：	50X
物鏡放大倍率：	2.5X
投影物鏡放大倍率：	20X
光源（鹵鎢燈）：	12V 100W
外形尺寸：	515 ×224×603mm（長×寬×高）
重量：	約18Kg