當(dāng)前位置：長沙艾克賽普儀器設(shè)備有限公司>>其他儀器與工具>>秦思肯Tescan FERA3 GM 掃描電子顯微鏡

秦思肯Tescan FERA3 GM 掃描電子顯微鏡

返回列表頁

參考價

面議

具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)

產(chǎn)品型號

品牌

廠商性質(zhì)其他

所在地

在線詢價收藏產(chǎn)品查看聯(lián)系電話

聯(lián)系方式：查看聯(lián)系方式

更新時間：2022-12-07 15:16:53瀏覽次數(shù)：248次

聯(lián)系我時，請告知來自環(huán)保在線

產(chǎn)品分類 品牌分類

  其他儀器與工具

全部產(chǎn)品列表

暫無信息

長沙艾克賽普儀器設(shè)備有限公司

經(jīng)營模式：其他

商鋪產(chǎn)品：339條

所在地區(qū)：

詢價 給他留言

產(chǎn)品簡介

詳細(xì)介紹

秦思肯Tescan FERA3 GM 掃描電子顯微鏡是一款由計算機控制的Xe等離子聚焦離子束（i-FIB）場發(fā)射掃描電子顯微鏡，可選配氣體注入系統(tǒng) (GIS)，可在高真空和低真空模式下工作，其具有突出的光學(xué)性能、清晰的數(shù)字化圖像、成熟和用戶界面友好的SEM/FIB/GIS操作軟件等特點?；赪indows™平臺的操作軟件提供了簡單的電鏡操作和圖像采集，可以保存標(biāo)準(zhǔn)文件格式的圖片，可以對圖像進(jìn)行管理、處理和測量，實現(xiàn)了電鏡的自動設(shè)置和許多其它自動操作。

秦思肯Tescan FERA3 GM 掃描電子顯微鏡分析潛力：高亮度肖特基發(fā)射可獲得高分辨率、高電流和低噪聲的圖像；選配的In-Beam二次電子探頭可獲取超高分辨率圖像；三透鏡大視野觀察（Wide Field Optics™）設(shè)計提供了多種工作模式和顯示模式，體現(xiàn)了TESCAN*可優(yōu)化電子束光闌的中間鏡設(shè)計；結(jié)合了完善的電子光學(xué)設(shè)計軟件的實時電子束追蹤（In-Flight Beam Tracing™）可模擬和進(jìn)行束斑優(yōu)化；成像速度快；低電壓下的電子束減速模式（Beam Deceleration Technology – BDT）可獲取高分辨率圖像（選配）；In-Beam背散射電子探頭，用于在小工作距離下得BSE圖像（選配），甚至適合鐵磁性樣品；全計算機化優(yōu)中心電動載臺設(shè)計優(yōu)化了樣品操控；的幾何設(shè)計更適合安裝能譜儀（EDX）、波譜儀（WDX）、背散射電子衍射儀（EBSD）；由于使用了強力的渦淪分子泵和干式前置真空泵，因而可以很快達(dá)到電鏡的工作真空，電子槍的真空由離子泵維持；自動的電子光路設(shè)置和合軸；網(wǎng)絡(luò)操作和內(nèi)置的遠(yuǎn)程控制/診斷軟件；3維電子束技術(shù)提供實時立體圖像；在低真空模式下樣品室真空可達(dá)到500Pa 用于觀測不導(dǎo)電樣品；的離子差異泵（2個離子泵）使得離子散射效應(yīng)超低；聚焦離子束鏡筒內(nèi)有馬達(dá)驅(qū)動高重復(fù)性光闌轉(zhuǎn)換器；聚焦離子束的標(biāo)配包括了電子束遮沒裝置和法拉第筒；高束流下超高的銑削速度和的性能FIB切割、信號采集、3維重構(gòu)（斷層攝影術(shù)），3D EBSD、3D EBIC與集成3維可視化；成熟的SEM/FIB/GIS操作軟件，圖像采集、存檔、處理和分析功能。

秦思肯Tescan FERA3 GM 掃描電子顯微鏡配置：FERA3 GMH，是一款由計算機控制的Xe等離子聚焦離子束（i-FIB）場發(fā)射掃描電子顯微鏡，可選配氣體注入系統(tǒng)(GIS)，在高真空模式下工作。FERA3 GMU，是一款由計算機控制的Xe等離子聚焦離子束（i-FIB）場發(fā)射掃描電子顯微鏡，可選配氣體注入系統(tǒng)(GIS)，可在高真空和低真空模式下工作。

如果您需要秦思肯Tescan FERA3 GM 掃描電子顯微鏡及秦思肯品牌儀器、或者其他品牌儀器，均可聯(lián)絡(luò)我司銷售部門：。

關(guān)鍵詞：

關(guān)鍵詞：掃描電子顯微鏡電子顯微鏡顯微鏡能譜儀波譜儀

其他推薦產(chǎn)品更多>>