超高分辨率成像和高通量分析性能
FEI 的 Teneo SEM 可為金屬研究人員、學(xué)術(shù)和工業(yè)研究機構(gòu)提供超高分辨率成像和通量分析性能。
檢測領(lǐng)域的一場變革 - 的 TrinityTM 檢測方法能夠?qū)Ψ旱臉颖咎峁Ρ榷龋?/span>
從而使得成像速度極快并令圖像易于解釋。通過與標(biāo)準(zhǔn)室型檢測器同步運行的三個單獨的鏡頭內(nèi)檢測器，
可從各個角度執(zhí)行同步檢測，從而節(jié)省時間、提供最多信息并防止樣本污染和受損。
Teneo 的生命科學(xué)應(yīng)用
在細(xì)胞和組織的自然背景下解開其復(fù)雜的三維架構(gòu)，這對于生物系統(tǒng)中的結(jié)構(gòu)功能相關(guān)性非常重要。
通過結(jié)合串行塊面 SEM (SBF-SEM) 和多能反卷積 SEM (MED-SEM)，Teneo VS 以真正的各向同性三維分辨率實現(xiàn)大體積成像。
真正的大體積樣本各向同性三維數(shù)據(jù)：MED-SEM 提供的出色 Z 軸分辨率和高效的原位切片
對所有樣本的超高對比度和分辨率：鏡頭內(nèi)探測器在高真空 (HiVac) 模式下提供對比度和 SNR，
專用探測器在低真空模式 (LoVac) 下提供分辨率和電荷緩解。
在普通 SEM 用途和串行塊面成像之間輕松切換：安裝在載片臺上的切片機外形緊湊，可輕松更換刀片
任何操作員均可即刻上手：高度自動化和易用性設(shè)計可提高操作員的效率，幫助完成大規(guī)模實驗
工作流程解決方案可提高效率和準(zhǔn)確度：通過 CLEM 方法快速識別觀察區(qū)域，并通過自動化多層既定行程覆蓋大體積樣本
Teneo VS SEM 生命科學(xué)應(yīng)用
獲取大體積樣品的質(zhì)量各向同性三維數(shù)據(jù)
Teneo VS™ 是全新的串行塊面成像解決方案，將多能反卷積 SEM 的出色 Z 軸分辨率
與原位切片的高效率相結(jié)合。Teneo VS 在細(xì)胞和組織的自然背景下解開
其復(fù)雜的三維架構(gòu)，這對于洞悉生物系統(tǒng)中的結(jié)構(gòu)功能相關(guān)性非常重要。
Teneo VS 的自動化和易用性可提高不同經(jīng)驗水平的操作員的工作效率，令其可在各向
同性分辨率下采集大體積樣品。
主要優(yōu)勢
真正的大體積樣品各向同性三維數(shù)據(jù)：
多能反卷積 SEM 的出色 Z 軸分辨率與原位切片的高效率相結(jié)合。
適用于所有樣品的對比度和分辨率：
透境內(nèi)和柱內(nèi)探測器在高真空模式下提供對比度和 SNR，同時，專用探測器在低真空模式下提供分辨率。
在普通 SEM 用途和串行塊面成像之間輕松切換：
安裝在載片臺上的切片機外形緊湊，可輕松更換刀片。
任何操作員均可即刻上手：
高度自動化和易用性設(shè)計可提高操作員的效率，激勵完成大規(guī)模實驗。
因工作流程解決方案而提高效率和準(zhǔn)確度：
通過 CLEM 方法快速識別觀察區(qū)域，并通過自動化多層既定行程覆蓋大體積樣品。
