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掃描電子顯微鏡

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產品型號CS3400LVV

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更新時間：2023-11-08 08:50:41瀏覽次數(shù)：152次

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產品簡介

CS3400LVV掃描電子顯微鏡(ScaningElectronMicroscope）儀器介紹：CS3400LV是一款專門為法庭科學實驗室設計制造的掃描電子顯微鏡，具有許多特殊的配置供選擇

詳細介紹

CS3400LVV掃描電子顯微鏡

(Scaning Electron Microscope）
儀器介紹：
CS3400LV是一款專門為法庭科學實驗室設計制造的掃描電子顯微鏡，具有許多特殊的配置供選擇。
這是研究分析型掃描電鏡中的一款，擁有良好穩(wěn)定性和精度。此系列產品涵蓋了能與任何一款掃描電鏡兼容的大部分附件（包括50kv下的操作）。電源可選鎢燈絲，LaB6 或 FEG 。融合的設計和最入時的設計，我們確信擁有性能的此系列產品一定可以很好的與現(xiàn)公環(huán)境相適應，而且很容易操作。
簡便的工作臺設計，雙液晶顯示屏，超穩(wěn)定的電子光學系統(tǒng)，設計精密的樣品室和樣品臺，所有這些都保證了CS3000系列能夠很好的服務當今及未來社會的需求。這些顯微鏡具備許多自動化特征，的 CamScan Helios 軟件操作，用戶只需輕輕點擊鼠標就可以完成對它的操作，與Delta Pad 手動操作單元配合使用，效果更佳。裝備
技術參數(shù)：
1.放大倍率: 3x to 600,000x
2.低真空模式: 1-300Pa （三種可選氣體)
3.優(yōu)中心樣品臺馬達驅動標配: X=100mm, Y=150mm
4.樣品室內部尺寸: 315mm x 415mm x 315mm
5.SEM高分辨顯示屏: 雙 18" 高分辨率 LC 顯示器
主要特點：
1.的電子光學，在保證高分辨率的同時，具有的低倍性能（保證3倍下圖像無畸變）。
2.超大樣品室，最小一款內部尺寸（寬413mm x 深313 mm x 高313mm）。
3.的附件接口排列設計，附件接口多于16個。
4.樣品室上設有觀察窗并可選裝光學顯微鏡。
5.可在樣品室的同一側，同時安裝多個探測器。
6.高精度樣品臺, 單步移動精度≤0.2μm。
7.幾何位置可調整的二次電子探測器，改善圖像質量。
8.安裝X射線波譜儀后，性能與指標與電子探針相同，甚至優(yōu)于電子探針。
9.大視野大范圍的信息分析。
10.的 CamScan Helios 軟件操作。
11.與Delta Pad 手動操作單元配合使用，效果更佳。
12.的設計，更符合人體工程學。
13.安裝了自動水平傳感器的氣墊減震裝置。
價格：詢價產地：英國