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OLED器件IVL測(cè)試、壽命測(cè)試和外量子效率三合一的光學(xué)測(cè)試

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蘇州弗士達(dá)科學(xué)儀器有限公司

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為滿足科研類測(cè)試的需求，弗士達(dá)提供集成IVL測(cè)試和視角測(cè)試、壽命測(cè)試、光通量和外量子效率功能的多合一機(jī)臺(tái)。增加了高精度的多通道電源為多工位的壽命測(cè)試提供定電流或定電壓輸出，器件的亮度則由光譜儀逐一掃描...

詳細(xì)介紹

系統(tǒng)概述
為滿足科研類測(cè)試的需求，弗士達(dá)提供集成IVL測(cè)試和視角測(cè)試、壽命測(cè)試、光通量和外量子效率測(cè)試功能的多合一機(jī)臺(tái)。增加了高精度的多通道電源為多工位的壽命測(cè)試提供定電流或定電壓輸出，器件的亮度則由光譜儀逐一掃描各工位得到。為準(zhǔn)確測(cè)量器件的外量子效率，增加了一個(gè)光通量測(cè)試用積分球和光纖光譜儀，將器件置于積分球內(nèi)部，進(jìn)行光通量和外量子效率的測(cè)量。內(nèi)置的校正A光源可提升光通量測(cè)試準(zhǔn)確性。

I-V-L曲線測(cè)量的設(shè)定
1.可以設(shè)定起始電壓、終止電壓、電壓步長(zhǎng)，進(jìn)行連續(xù)的測(cè)量
2.可以設(shè)定起始電流密度、終止電流密度、電流密度步長(zhǎng)，進(jìn)行連續(xù)測(cè)量
3.可以單獨(dú)設(shè)定電流密度的亮度檢測(cè)下限值，低于下限值時(shí)僅測(cè)電流電壓，超過(guò)下限值后同時(shí)測(cè)電壓電流亮度等數(shù)據(jù)
4.可以設(shè)定并保存設(shè)定的機(jī)種參數(shù)，下次測(cè)量時(shí)可以直接調(diào)用

I-V-L的測(cè)量數(shù)據(jù)
測(cè)量的結(jié)果包括：亮度L(cd/m²)，電流效率(mA/cm²)，發(fā)光效率，外量子效率，色坐標(biāo)(x，y)，色溫，顯色指數(shù)CRI，發(fā)光光譜.
輸出的測(cè)量項(xiàng)報(bào)表中的圖表包括： Cdens-V， Cdens-L， Cdens-LumE， Cdens-EQE， CIE1931，Spectra

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