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深圳市科時達電子科技有限公司
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霍爾效應測試系統HEMS測量包括：?遷移率測試?DCHEMS:10^6cm2/Vsto10cm2/Vs?ACHEMS:10cm2/Vsto0
霍爾效應測試系統HEMS
測量包括：
? 遷移率測試
? DC HEMS: 10^6cm2/Vs to 10cm2/Vs
? AC HEMS: 10cm2/Vs to /Vs
? 載流子濃度測試
? 電阻率測試
? 電阻測量
? 低電阻范圍 1uohm to 1Mohm
? 寬電阻范圍 1uohm to 100Gohm
? 高電阻范圍 1ohm to 100Gohm
? 范德堡法測試范圍
? 霍爾巴法測試
磁帽:
? 可更換帽
? 標準25mm
? 在0-130mm間距連續(xù)可調
? 更大帽直徑可選,50mm,75mm
電磁鐵:
? ±@100mmgapwith25mmpoleface
? ±35V, ±70A電源
? 磁場>±IT@25mmpolegap
? 線圈電阻: ? (20°C)
? 水冷
溫度選項:
? 低溫 3K-300K
? 高溫300K-1273K
納米磁學高斯計:
? 磁場掃描采用集成高斯計
? 磁場校準采用霍爾探頭
? 高靈敏度的磁場測量
? 所有參數可通過軟件控制
樣品架:
? 4,6 or8范德堡或霍爾巴測試設計
? 易于樣品安裝與彈簧連接
? 5mmx5mm樣品大小(提供更大選件)
? 多個樣品安裝
控制器和軟件:
? 使用我們軟件可逐層的進行遷移率分析
? 基于C# 的全自動軟件分析
? 非常寬的溫度測試范圍,3-1,300K
? 采用高斯計進行磁場的控制
? 非常容易的進行范德堡霍爾巴方法樣品測試
? 提供軟件終生升
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