高分辨透射電子顯微鏡（TEM）

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更新時(shí)間：2023-03-27 14:52:08瀏覽次數(shù)：671次

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蘇州德優(yōu)博測新材料有限公司

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產(chǎn)品簡介

儀器照片儀器名稱高分辨透射電子顯微鏡儀器型號JEM-2010生產(chǎn)廠家日本電子公司儀器簡介透射電鏡是以電子束透過樣品經(jīng)過聚焦與放大后所產(chǎn)生的物像，投射到熒光屏上或照相底片上進(jìn)行觀察

詳細(xì)介紹

儀器照片
儀器名稱	高分辨透射電子顯微鏡
儀器型號	JEM-2010
生產(chǎn)廠家	日本電子公司
儀器簡介	透射電鏡是以電子束透過樣品經(jīng)過聚焦與放大后所產(chǎn)生的物像，投射到熒光屏上或照相底片上進(jìn)行觀察。該設(shè)備包含有TEM﹑EDS﹑NBD﹑CBD工作模式，可觀察材料的質(zhì)厚襯度像，衍射襯度像和高分辨電子顯微像；可獲得不同取向的電子衍射花樣；可進(jìn)行微區(qū)成分分析。
技術(shù)參數(shù)	加速電壓：80-200kV 電子槍：LaB6晶體能譜儀：Link-Inca超薄窗口能譜儀放大倍率：50-150萬倍分辨率：點(diǎn)分辨率≤0.23nm，線分辨率=0.14nm	加速電壓穩(wěn)定性：≤2ppm 物鏡電流穩(wěn)定性：≤1ppm 物鏡色差系數(shù)：≤1.4mm　　物鏡球差系數(shù)：≤1.0mm 束斑尺寸:TEM mode: 優(yōu)于20nm　　 EDS/NBD/CBD mode: 優(yōu)于1.0nm
送樣要求	建議提供文獻(xiàn)圖片或者以前做過的圖片，如果沒有，檢測要求需詳細(xì)填寫。樣品可提供20張左右圖片：即篩選出三個(gè)比較好的區(qū)域，每個(gè)區(qū)域提供3-4張不同放大倍數(shù)滿足測試要求的圖片，對于找不到符合測試要求的區(qū)域的樣品，我們將會(huì)多拍一些區(qū)域以證明樣品的真實(shí)情況！寄送樣品質(zhì)量大于20 mg。