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蔡司FIB-SEM電子顯微鏡Crossbeam系列

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更新時(shí)間：2024-03-14 09:59:19瀏覽次數(shù)：180次

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蔡司Crossbeam系列專(zhuān)為高通量樣品制備和3D分析而設(shè)計(jì)的FIB-SEM輕松發(fā)現(xiàn)和設(shè)計(jì)材料蔡司Crossbeam系列的FIB-SEM結(jié)合了場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡（FE-SEM）出色的成像和分析性能，和新一代聚焦離子束（FIB）優(yōu)異的加工性能

詳細(xì)介紹

蔡司Crossbeam系列

專(zhuān)為高通量樣品制備和3D分析而設(shè)計(jì)的FIB-SEM

輕松發(fā)現(xiàn)和設(shè)計(jì)材料

蔡司Crossbeam系列的FIB-SEM結(jié)合了場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡（FE-SEM）出色的成像和分析性能，和新一代聚焦離子束（FIB）優(yōu)異的加工性能。無(wú)論是在科研或是工業(yè)實(shí)驗(yàn)室，您都可以在一臺(tái)設(shè)備上實(shí)現(xiàn)多用戶(hù)同時(shí)操作。得益于蔡司Crossbeam系列模塊化的平臺(tái)設(shè)計(jì)理念，您可以根據(jù)自己需求的變化隨時(shí)升級(jí)儀器系統(tǒng)。在加工、成像或是實(shí)現(xiàn)三維重構(gòu)分析時(shí)，Crosssbeam系列都將大大提升您的應(yīng)用體驗(yàn)。

＞使用Gemini電子光學(xué)系統(tǒng)，您可以從高分辨率SEM圖像中提取真實(shí)樣本信息

＞使用新的Ion-sculptor FIB鏡筒以及全新的樣品處理方式，您可以大限度地提高樣品質(zhì)量、降低樣品損傷，同時(shí)大大加快實(shí)驗(yàn)操作過(guò)程

＞使用Ion-sculptor FIB的低電壓功能，您可以制備超薄的TEM樣品，同時(shí)將非晶化損傷降到非常低

＞使用Crossbeam 350的可變氣壓功能

＞或使用Crossbeam 550實(shí)現(xiàn)更苛刻的表征，大倉(cāng)室甚至為您提供更多選擇

蔡司Crossbeam Laser飛秒激光-FIB解決方案

利用激光 FIB 助力原位實(shí)驗(yàn)

針對(duì)原位三維分析，首先需要準(zhǔn)確定位 ROI，通過(guò)對(duì)感興趣區(qū)域進(jìn)行針對(duì)性的前期刻蝕準(zhǔn)備后，完成進(jìn)一步的 3D 成像及分析。在您的蔡司 Crossbeam 上加裝飛秒激光系統(tǒng)，可大幅度提升樣品制備效率。