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X射線衍射儀XRD-7000

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更新時間：2023-04-05 16:35:55瀏覽次數(shù)：321次

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產(chǎn)品簡介

X射線衍射儀XRD-7000

詳細介紹

•配備具有0.0001°最小步進的高精度樣品水平型測角儀。根據(jù)分析目的，可以選擇適合分析大型樣品的Ｌ型（350mmφ樣品）和通用的S型。
•XRD-7000系列配備了樣品水平型測角儀，能夠測定超大型樣品。
•不但可進行定性/定量等基本分析，還可以應(yīng)用于殘留奧氏體定量、環(huán)境定量、晶格常數(shù)的精密化、結(jié)晶度的計算、晶體粒徑和晶格應(yīng)力的計算、晶系確定、Rietveid結(jié)構(gòu)解析軟件進行的晶體結(jié)構(gòu)解析。通過追加附件，還可以應(yīng)用于應(yīng)力測定、樣品加熱過程的分析、薄膜樣品測定等。
•利用新開發(fā)的大型R-θ樣品臺，可以進行350mmφ樣品全表面的自動應(yīng)力成圖測定。
•采用強大的多毛細管平行光束系統(tǒng)，可對應(yīng)凹凸不同的樣品的分析，擴大應(yīng)用范圍。

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