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EPOCH1000i 經(jīng)濟型相控陣探傷儀

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產(chǎn)品型號EPOCH1000i

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更新時間：2023-02-27 09:54:40瀏覽次數(shù)：306次

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上海劭嘉檢測科技有限公司

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產(chǎn)品簡介

相控陣成像功能套裝與高級常規(guī)超聲EPOCH1000i儀器為一款具有強大的常規(guī)超聲和相控陣缺陷探測能力的堅固耐用的便攜式儀器

詳細介紹

相控陣成像功能套裝與高級常規(guī)超聲

EPOCH 1000i儀器為一款具有強大的常規(guī)超聲和相控陣缺陷探測能力的堅固耐用的便攜式儀器。這款儀器使用單一設置顯示多種不同角度（聚焦法則）的A掃描，從而省去了對多個探頭和楔塊的需要。這個特性不僅提高了發(fā)現(xiàn)缺陷的機率，而且改善了缺陷區(qū)域的顯示效果，進而提高了缺陷檢測的效率。這款儀器不僅具備與EPOCH 1000一樣的優(yōu)異可靠的常規(guī)檢測性能，還因使用相控陣技術增添了新的優(yōu)勢特性。EPOCH 1000i可根據(jù)常規(guī)標準進行符合規(guī)范的檢測，其對相控陣技術的運用提高了檢測的精確性和效率。

EPOCH 1000i儀器的標準配置為16:16，可通過軟件升級到16:64的配置。EPOCH 1000i還包括很多有助于缺陷檢測的定量功能。儀器的標準配置還包括用于缺陷定量的A掃描和S掃描的參考光標和定量光標。

增益校準曲線的屏幕

增益校準曲線

同時顯示A掃描和S掃描的視圖

EPOCH 1000i儀器具有同時顯示A掃描和S掃描的標準視圖。這個視圖顯示來自處于用戶定義的起始角度和終止角度之間的每個角度的A掃描數(shù)據(jù)。可以選擇被統(tǒng)稱為聚焦法則的某個單個角度，將這個角度的A掃描實時顯示在屏幕上。這樣用戶利用相控陣成像功能，可以同時在多個角度下探測并定性潛在的缺陷。

校準全部聚焦法則

EPOCH 1000i儀器在相控陣模式下校準增益和零位偏移時，只需一步操作，即可對全部聚焦法則進行校準。這種自動校準操作可以在所有成像的角度（聚焦法則）下捕獲單個反射體的峰值波幅或聲時/距離測量值。然后，儀器使用捕獲的波幅或聲時/距離數(shù)據(jù)對每個聚焦法則的增益和零位偏移進行調整，以為每個A掃描提供經(jīng)過校準的測量值。

用于手動成像檢測的相控陣功能

EPOCH 1000相控陣DAC編輯模式

相控陣DAC編輯模式

用于全部聚焦法則的標準DAC/TVG

EPOCH 1000i儀器的標準配置包含用于全部聚焦法則的DAC/TVG。操作人員可以基于已知反射體，一次性為所有需要定義的角度或聚焦法則采集DAC曲線或創(chuàng)建TVG設置。隨后，用戶可以對在設置過程中采集到的單個點進行編輯，以獲得精確的DAC曲線或TVG設置。設置完成以后，用戶即可使用S掃描圖像探測出各個聚焦法則下的潛在缺陷。

EPOCH 1000相控陣DGS/AVG模式

相控陣DGS/AVG模式

標準相控陣DGS/AVG

DGS/AVG缺陷定量技術是相控陣模式中的一個標準選項。這個功能使用探頭ID識別碼與楔塊信息，建立DGS/AVG曲線特性，并將曲線應用在0°、45°、60°和70°聚焦法則上。用戶使用標準EPOCH儀器的機載DGS/AVG菜單和經(jīng)過修正的增益校準工具，可以快速方便地進行設置。這個選項還提供插值圖像TVG，用于在特定聲程范圍內進行便捷的檢測操作。

使用相控陣技術的焊縫檢測解決方案

EPOCH 1000帶有焊縫覆蓋的相控陣S掃描的屏幕

帶有焊縫覆蓋的相控陣S掃描

焊縫覆蓋

焊縫覆蓋功能是EPOCH 1000i儀器的標準配置，為用戶在S掃描顯示中提供了一個焊縫縱剖面圖的視覺參考信息。這個縱剖面圖可顯示缺陷指示相對于焊縫幾何形狀的相對位置。

用戶使用焊縫中線光標，可以手動定位焊縫覆蓋圖在S掃描中的位置。焊縫覆蓋功能不僅加強了在檢測過程中探出、定性、定量工件中缺陷的能力，而且提高了缺陷檢測報告的質量。

EPOCH 1000多角度相控陣模式的屏幕

多角度相控陣模式

EPOCH 1000i的多角度功能

EPOCH 1000i儀器的相控陣模式添加了一個名為"多角度"的標準功能。操作人員使用這個功能可掃查扇區(qū)范圍內的任何3個角度或聚焦法則，作為"可見的"聚焦法則。A掃描窗口中會顯示疊加在一起的來自3個角度的A掃描圖像。這樣，操作人員可以同時查看全部3個A掃描圖像。為使用方便，每個單獨的角度都以不同的顏色區(qū)分。對于需要使用常規(guī)定量方法在45°、60°和70°角度處進行評價的檢測人員來說，這無疑是一個非常的功能！

帶有真實深度閘門的A掃描和S掃描

真實深度閘門

在真實深度模式下，可以在S掃描中顯示多個測量閘門，這樣就可以在貫穿工件、間距相等的深度位置上采集測量讀數(shù)，而無需考慮所選擇的聚焦法則。這個功能在使用編碼C掃描選項時尤其有用，因為用戶利用這個功能，可以在一個單一閘門位置上采集到一個完整跳躍距離的信息。

真實深度閘門是只會出現(xiàn)在S掃描中的幾條水平線。A掃描視圖依然保持聲程模式。

檢測人員正在演示45°聚焦法則的AWS“D

45°聚焦法則的AWS"D"值焊縫定級顯示

AWS焊縫定級

EPOCH 1000i儀器的標準配置包含一個AWS D1.1/D1.5焊縫定級計算器。如果儀器使用符合AWS定級的Olympus相控陣探頭，則可利用成像功能進行缺陷探測，同時利用常規(guī)A掃描技術定量在45°、60°和70°處的缺陷。操作人員還可在屏幕上觀察任何所選A掃描（聚焦法則）的焊縫定級D值。

線性掃查和編碼C掃描

這個可選購軟件功能將EPOCH 1000i儀器的配置提高到了16:64晶片，既可以顯示線性掃描，也可以顯示編碼或時基C掃描。使用最多含有64個晶片，活動孔徑為16個晶片的探頭，可以采集線性掃描圖。

沿單線掃查軸進行已編好程序的線性掃查或扇形掃查，可以采集到圖像數(shù)據(jù)；這些圖像數(shù)據(jù)的積累可以創(chuàng)建C掃描圖像。探頭沿掃查軸移動時需要有一個編碼器跟蹤探頭的移動。這個編碼C掃描圖像收集來自兩個獨立測量閘門的渡越時間（TOF）數(shù)據(jù)和波幅數(shù)據(jù)。在C掃描圖像的采集過程中會實時顯示A掃描。C掃描中所有點的壓縮A掃描圖像都會被存儲起來，并在顯示C掃描中某個位置的S掃描或線性掃描的同時顯示這個位置的A掃描圖像，用于基本的圖像分析。采集到掃描圖像以后，可以對數(shù)據(jù)源和類型進行動態(tài)調節(jié)，可使用光標進行基本掃查定量操作。這個軟件功能還具有一些附加彩色調色板，用于相控陣掃描圖像。這些彩色調色板分別具有不同的顏色標度，可用于各種應用，還可被修改以滿足用戶的特殊需求。

請觀看有關編碼C掃描特性的視頻。

EPOCH 1000儀器的零度C掃描屏幕

零度C掃描

特性

編碼或時基C掃描
單向或雙向編碼
支持多達64個晶片的探頭
最小掃查分辨率為1毫米
所有C掃描點的壓縮A掃描存儲
可根據(jù)S掃描或線性掃描創(chuàng)建C掃描
每次掃查的編碼距離為3米（掃查分辨率為每毫米61個聚焦法則）
圖像和A掃描回放，使用光標可進行圖像分析

編碼C掃描技術規(guī)格
文件容量	70 Mb
最小掃查分辨率	1毫米
C掃描采集速率	20 Hz
可保存的A掃描點數(shù)	500點

與EPOCH 1000i儀器配套使用的相控陣探頭及配件

EPOCH 1000i儀器支持新型相控陣系列探頭，可滿足關鍵性檢測的要求。這些探頭包括符合某些特殊規(guī)范的特定探頭和標準焊縫檢測探頭，其中某些相控陣探頭的楔塊可被拆裝，也可與探頭整合為一體。大多數(shù)含有不超過64個晶片的常用相控陣探頭都可與EPOCH 1000i儀器兼容。

常規(guī)模式到相控陣模式的快速轉換

EPOCH 1000i在常規(guī)模式下，與所有標準單晶探頭兼容。只需按一下按鈕，便可輕松實現(xiàn)從常規(guī)UT探頭檢測到相控陣探頭檢測的轉換！鑒于EPOCH 1000i儀器這種從UT模式到PA模式的快速轉換特性，操作人員在檢測過程中可輕而易舉綜合享用常規(guī)超聲和相控陣超聲兩種技術。