蔡司 METROTOM斷層掃描測(cè)量機(jī)——測(cè)量技術(shù)的新革命
蔡司 Metrotomo融合了計(jì)量學(xué)和斷層X(jué)射線攝影法,開創(chuàng)了不可預(yù)期的可能性。在此之前只能檢測(cè)或根本不能進(jìn)行質(zhì)量保證的場(chǎng)合,現(xiàn)在可以進(jìn)行高精度和無(wú)損測(cè)量。
斷層掃描分析如同在工件內(nèi)部測(cè)量:所有采集的數(shù)據(jù)可用于質(zhì)量保證的范圍和進(jìn)行評(píng)估。無(wú)損檢測(cè)技術(shù),例如:裝配檢查、損傷和氣孔分析、材料檢驗(yàn)或損壞檢查,如同測(cè)量評(píng)估、逆向工程應(yīng)用或幾何比較一樣。
在此之前或許不能檢測(cè),或只能通過(guò)耗費(fèi)時(shí)間和成本的接口進(jìn)行檢測(cè)的場(chǎng)合,現(xiàn)在斷層掃描分析可以快速明確地檢測(cè)誤差。
重要特征
深思熟慮的設(shè)計(jì)
● 三維計(jì)算機(jī)斷層掃描分析帶有微聚焦X射線管和探測(cè)器
● 用于裝夾工件的轉(zhuǎn)臺(tái)和蔡司的運(yùn)動(dòng)單元
安全技術(shù)
● 全防護(hù)測(cè)量間
● 滿足了根據(jù)DN54113標(biāo)準(zhǔn)的用于結(jié)構(gòu)類型許可全封閉儀器的防護(hù)射線條例
● 根據(jù)人機(jī)工程學(xué)優(yōu)化的設(shè)計(jì)(專用上料位置)
機(jī)器技術(shù)
來(lái)自卡爾蔡司的精密運(yùn)動(dòng)系統(tǒng);
● 自加工的精密機(jī)械組件 ● 導(dǎo)軌誤差補(bǔ)償(CAA計(jì)算機(jī)輔助誤差修正技術(shù))
氣浮軸承轉(zhuǎn)臺(tái):
● 蔡司原裝轉(zhuǎn)臺(tái),配有直接驅(qū)動(dòng) ● 自產(chǎn)氣浮軸承
● 載荷(中心):500N ● 軸向誤差fa=0.1μm,徑向誤差fa=0.2μm
使用斷層成像技術(shù)優(yōu)化產(chǎn)品內(nèi)部工藝
● 裝配檢查 ● 模具修復(fù)——幾何量對(duì)比 ● 材料分析
● 幾何量測(cè)量 ● 無(wú)損瑕疵檢測(cè) ● 逆向工程
● 孔隙率分析 ● 損害分析
針對(duì)設(shè)備的驗(yàn)收測(cè)試階段,卡爾蔡司使用基于VDI/VDE 2630開發(fā)的標(biāo)準(zhǔn)器具,同時(shí)可提供測(cè)量不確定性的相應(yīng)對(duì)比測(cè)試及測(cè)量機(jī)的測(cè)量系統(tǒng)分析。
儀器參數(shù)/儀器型號(hào) |
METROTOM 800
| METROTOM 1500 |
測(cè)量范圍(mm) | 直徑150*170 | 直徑170*150 | 直徑350*300 |
分辨率(μm) | 3.5-6 |
射線管類型 | 密閉式微焦點(diǎn)射線管
| 開放式X射線技術(shù)
|
射線管,管功率 | 130Kv,39W
| 225Kv,500W |
探測(cè)器分辨率 | 1536*1920
| 1024*1024 | 2048*2048 |
放射源-探測(cè)器距離(mm)
| 800
| 800 | 1500 |
軟件 | CALYPSO |
殼體材料 | 聚合物混凝土 | 鉛 |
用途 | 測(cè)量實(shí)驗(yàn)室 |