車規(guī)電子元器件認(rèn)證 參考價(jià)：面議
車規(guī)電子元器件認(rèn)證是對用于汽車電子領(lǐng)域的元器件進(jìn)行的一系列嚴(yán)格測試和認(rèn)證，以確保它們能在汽車的各種復(fù)雜環(huán)境中穩(wěn)定、可靠地運(yùn)行。
AEC-Q認(rèn)證服務(wù) 參考價(jià)：面議
AEC-Q認(rèn)證服務(wù)是專門針對汽車電子零部件設(shè)計(jì)的一系列質(zhì)量評估與可靠性測試服務(wù)。它旨在確保汽車電子部件能夠在各種復(fù)雜多變的環(huán)境下穩(wěn)定工作，為汽車的安全性和性能提...
芯片失效分析檢測 參考價(jià)：面議
芯片失效分析檢測是判斷芯片失效性質(zhì)、分析失效原因、研究預(yù)防措施的技術(shù)工作。其目的在于提高芯片品質(zhì)，改善生產(chǎn)方案，從而保障產(chǎn)品品質(zhì)。
光電熱機(jī)械全參數(shù)測試 光電器件 參考價(jià)：面議
光電熱機(jī)械全參數(shù)測試 光電器件：廣電計(jì)量光、電、熱、機(jī)械全參數(shù)測試服務(wù)可與企業(yè)合作，深入產(chǎn)品研發(fā)階段，有效為產(chǎn)品研發(fā)和定型提供測試保障。
傳感器液體冷熱沖擊試驗(yàn) 參考價(jià)：面議
傳感器液體冷熱沖擊試驗(yàn)：液態(tài)冷熱沖擊試驗(yàn)主要用于兩個(gè)裝置內(nèi)部的液體冷熱交替循環(huán)試驗(yàn)。冷熱沖擊試驗(yàn)是評價(jià)散熱器抗溫度交變循環(huán)能力的強(qiáng)化試驗(yàn)，為冷卻器的設(shè)計(jì)提供試驗(yàn)...
光電子器件LED失效分析 參考價(jià)：面議
光電子器件LED失效分析：隨著LED應(yīng)用的飛速發(fā)展，其失效問題也隨之表現(xiàn)的尤為突出，特別是LED隨機(jī)性不點(diǎn)燈或性不點(diǎn)燈，以及燒燈等，是困擾產(chǎn)品可靠性壽命的關(guān)鍵問...
光電器件 電磁繼電器電性能測試 參考價(jià)：面議
光電器件 電磁繼電器電性能測試：繼電器是一種自動控制開關(guān)，當(dāng)其輸入端的物理量達(dá)到某一量值時(shí)，其輸出端的狀態(tài)發(fā)生階躍式變化。繼電器廣泛應(yīng)用于遙控、遙測、通訊、自動...
PCB PCBA金相切片試驗(yàn) 光電器件測試 參考價(jià)：面議
PCB PCBA金相切片試驗(yàn) 光電器件測試：金相切片是電子行業(yè)中常用的產(chǎn)品內(nèi)部質(zhì)量評價(jià)方法。廣電計(jì)量擁有完整的切片分析測試設(shè)備，經(jīng)驗(yàn)豐富的切片分析人才，能夠高效...
AD/DA轉(zhuǎn)換器電性能測試 光電器件 參考價(jià)：面議
AD/DA轉(zhuǎn)換器電性能測試 光電器件:AD/DA轉(zhuǎn)換器是將數(shù)字量轉(zhuǎn)換為模擬量的電路，主要用于數(shù)據(jù)傳輸系統(tǒng)、自動測試設(shè)備、醫(yī)療信息處理、電視信號的數(shù)字化、圖像信號...
光電器件三端穩(wěn)壓器電氣性能測試 參考價(jià)：面議
光電器件三端穩(wěn)壓器電氣性能測試：三端穩(wěn)壓器主要包括兩種，一種輸出固定電壓，稱為固定輸出三端穩(wěn)壓器；另一種輸出可調(diào)電壓，稱為可調(diào)輸出三端穩(wěn)壓器。兩種穩(wěn)壓器基本原理...
5G通信 IC芯片開封試驗(yàn) 參考價(jià)：面議
5G通信 IC芯片開封試驗(yàn)：廣電計(jì)量IC芯片開封試驗(yàn)主要是切開剖面觀察金絲情況，及金球情況，表面鋁線是否受傷，芯片是否有裂縫，光刻是否不良,是否中測，芯片名是否...
功率器件失效分析 電力電子器件 參考價(jià)：面議
功率器件失效分析 電力電子器件：功率器件可靠性是器件廠商和應(yīng)用方除性能參數(shù)外較為關(guān)注的，也是特性參數(shù)測試無法評估的，失效分析則是分析器件封裝缺陷、提升器件封裝水...
第三代半導(dǎo)體器件全參數(shù)測試 電力電子器件 參考價(jià)：面議
第三代半導(dǎo)體器件全參數(shù)測試 電力電子器件:廣電計(jì)量專家團(tuán)隊(duì)深入解讀IGBT測試相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)，建立功率模塊可靠性驗(yàn)證技術(shù)能力，可以為功率半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)上下游企業(yè)提供具有專...
AQG324認(rèn)證服務(wù) LV324汽車電子元器件測試 參考價(jià)：面議
AQG324認(rèn)證服務(wù) LV324汽車電子元器件測試：是ECPE相關(guān)工作組基于LV324測試標(biāo)準(zhǔn)，為汽車電力電子轉(zhuǎn)換單元(PCUs)用功率模塊推出的認(rèn)證指南。其中...
汽車電子無鉛工藝質(zhì)量評價(jià) 材料檢測服務(wù) 參考價(jià)：面議
汽車電子無鉛工藝質(zhì)量評價(jià)：廣電計(jì)量的專業(yè)團(tuán)隊(duì)具備10多年失效分析經(jīng)驗(yàn)支撐，可提供vw80000系列、ES90000系列等整車廠的汽車電子無鉛工藝質(zhì)量評價(jià)，幫助企...
汽車內(nèi)外飾、線束端子類質(zhì)量評價(jià)分析 材料檢測服務(wù) 參考價(jià)：面議
汽車內(nèi)外飾、線束端子類質(zhì)量評價(jià)分析:廣電計(jì)量具備專業(yè)的汽車內(nèi)外飾鍍層質(zhì)量評價(jià)，線束端子類質(zhì)量評價(jià)技術(shù)團(tuán)隊(duì)，幫助企業(yè)發(fā)現(xiàn)潛在質(zhì)量缺陷、控制產(chǎn)品質(zhì)量風(fēng)險(xiǎn)。
汽車功率器件耐久性試驗(yàn) 材料檢測服務(wù) 參考價(jià)：面議
汽車功率器件耐久性試驗(yàn)：功率半導(dǎo)體器件是新能源、軌道交通、電動汽車、工業(yè)應(yīng)用和家用電器等應(yīng)用的核心部件。特別是隨著新能源電動汽車的高速發(fā)展，功率半導(dǎo)體器件的市場...
AEC-Q104認(rèn)證測試,汽車零部件車規(guī)級認(rèn)證 材料檢測服務(wù) 參考價(jià)：面議
AEC-Q104認(rèn)證測試,汽車零部件車規(guī)級認(rèn)證：廣電計(jì)量AEC-Q104測試能力提供全套的測試認(rèn)證服務(wù)，通過使用各種測試分析技術(shù)和分析程序確認(rèn)產(chǎn)品的失效現(xiàn)象，分...
AEC-Q200產(chǎn)品測試,車規(guī)級認(rèn)證 材料檢測服務(wù) 參考價(jià)：面議
AEC-Q200產(chǎn)品測試,車規(guī)級認(rèn)證：AEC-Q200檢測標(biāo)準(zhǔn)詳細(xì)規(guī)定了車內(nèi)各種環(huán)境下被動元件的使用溫度范圍，對各類元器件的測試項(xiàng)目作了嚴(yán)格的區(qū)分，同時(shí)，對元器...
AEC-Q102產(chǎn)品試驗(yàn),車規(guī)級認(rèn)證 材料檢測服務(wù) 參考價(jià)：面議
AEC-Q102產(chǎn)品試驗(yàn),車規(guī)級認(rèn)證：車燈是整車的重要組件，圍繞車燈及其附件的可靠性試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)紛繁復(fù)雜，各主機(jī)廠的試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)均有不同描述，通用性較差。廣電計(jì)量提供一...
AEC-Q101認(rèn)證試驗(yàn),車規(guī)級認(rèn)證 材料檢測服務(wù) 參考價(jià)：面議
AEC-Q101認(rèn)證試驗(yàn),車規(guī)級認(rèn)證：廣電計(jì)量在SiC第三代半導(dǎo)體器件的AEC-Q認(rèn)證上具有豐富的實(shí)戰(zhàn)經(jīng)驗(yàn)，為您提供專業(yè)可靠的AEC-Q101認(rèn)證服務(wù)，同時(shí)，我...
AEC-Q100認(rèn)證試驗(yàn),車規(guī)級認(rèn)證 材料檢測服務(wù) 參考價(jià)：面議
AEC-Q100認(rèn)證試驗(yàn),車規(guī)級認(rèn)證:廣電計(jì)量失效分析實(shí)驗(yàn)室AEC-Q技術(shù)團(tuán)隊(duì)，執(zhí)行過大量的AEC-Q測試案例，積累了豐富的認(rèn)證試驗(yàn)經(jīng)驗(yàn)，可為您提供更專業(yè)、更可...
集成電路工程化量產(chǎn)測試,元器件失效分析 材料檢測服務(wù) 參考價(jià)：面議
集成電路工程化量產(chǎn)測試,元器件失效分析：集成電路工程化量產(chǎn)測試。集成電路測試卡位產(chǎn)業(yè)鏈關(guān)鍵節(jié)點(diǎn)，貫穿設(shè)計(jì)、制造、封裝測試以及應(yīng)用的全過程。
超大規(guī)模集成電路動態(tài)老煉與測試失效分析 材料檢測服務(wù) 參考價(jià)：面議
超大規(guī)模集成電路動態(tài)老煉與測試失效分析：超?規(guī)模集成電路測試是確定或評估?規(guī)模集成電路的功能和電性能的過程，是驗(yàn)證設(shè)計(jì)、監(jiān)控?產(chǎn)、保證質(zhì)量、分析失效以及指導(dǎo)應(yīng)?...(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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