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深圳九州工業(yè)品有限公司
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雙折射分布即時可視化透明成型產(chǎn)品2D雙折射評價裝置的測量原理
Photonic Lattice 光子晶格
PA-200
主要特點
實現(xiàn)光學(xué)元件的“雙折射評價”??！
即時可視化透明成型產(chǎn)品（例如透鏡、光盤、Doko 板等）
的雙折射分布。
測量數(shù)據(jù)示例
雙折射面內(nèi)分布的高速定量評價
多種圖形顯示功能
雙折射分布的 3D 顯示，顯示高度上的雙折射量
配備易于使用的專用軟件PA-View
可以進行視頻拍攝和分析。 （選項）
還有一種用于測量微量樣品的顯微鏡類型（PA-micro）。 （新發(fā)布）
雙折射分布的測量原理
由于強大的內(nèi)應(yīng)力或扭曲的晶體結(jié)構(gòu)，折射率可能會根據(jù)方向略有變化。 這稱為雙折射。
雙折射物質(zhì)具有改變穿過其的光的偏振狀態(tài)的特性，廣泛應(yīng)用于液晶面板、光盤等物品。
雙折射測量有時也用于評估內(nèi)應(yīng)力。
然而，由于測量雙折射通常需要時間，因此即使需要定量測量表面分布，也可以使用多個點的點測量作為替代方案。
使用PA200，您可以通過簡單的操作快速測量雙折射的表面分布。 這使得測量整個樣品及其整個表面成為可能。
利用兩種獨的特的技術(shù)來快速測量雙折射的表面分布。
技術(shù)1：頭部內(nèi)置偏光圖像傳感器
該傳感器與偏振相機 PI00 類似，可讓您即時捕捉偏振光平面分布的圖像。
技術(shù)2：高速偏振測量算法
通過對每個像素進行高速高級偏振計算的程序，首的次的實現(xiàn)了高速雙折射測量。
操作簡單。
首先，在不放置待測物體的情況下拍攝光源。
您只需將樣品放在其上，然后單擊測量按鈕即可依次測量樣品整個表面的雙折射分布。
主要規(guī)格
|
| PA-200 | PA-200-L |
| 測量 | ||
| 測量范圍 | 0～130nm | |
| 重復(fù)性 | 1.0nm以下 | |
| 傳感器單元 | ||
| 雙折射像素數(shù) | 1120×868（≒100萬）像素 | |
| 測量波長 | 520nm | |
| 住房 | ||
| 尺寸 | 270×340×560毫米 | 430×490×910毫米 |
| 測量區(qū)域大小 | 27×36mm～99×132mm（標準鏡頭） | 36×48mm～240×320mm（標準鏡頭） |
| 3.6×4.8 mm ~ 12.9×17.2mm（變焦鏡頭*可選） | ||
| 重量 | 18公斤 | 24公斤 |
| 其他的 | ||
| 界面 | GigE（相機信號） | |
| 電源/電流消耗 | AC100~240V(50/60Hz) / ~6.0A | |
| 軟件 | PA-視圖 | |
| 配件 | 筆記本電腦、標準鏡頭、使用說明書 | |
注1) 可測量范圍因測量材料而異。
*產(chǎn)品規(guī)格如有更改，恕不另行通知。
*本產(chǎn)品可測量的內(nèi)部畸變是光學(xué)測量的，測量值顯示為光學(xué)相位差（單位：nm）。
