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深圳九州工業(yè)品有限公司
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F10-AR-UV美國filmetrics 薄膜測量儀
| 參考價: | ￥ 3000 |
| 訂貨量: | 1臺 |
具體成交價以合同協(xié)議為準- F10-AR-UV 產(chǎn)品型號
- 其他品牌 品牌
- 經(jīng)銷商 廠商性質(zhì)
- 深圳市 所在地
訪問次數(shù)：699更新時間：2024-11-21 13:11:41
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產(chǎn)品簡介
| 產(chǎn)地 | 進口 |
|---|
輕松且經(jīng)濟地測量減反射涂層和硬質(zhì)涂層
F10-AR 是首的款專為簡單、經(jīng)濟實惠的眼科抗反射 (AR) 涂層測量而設(shè)計的儀器。 AR 涂層測量儀器的成本只是當今使用的大多數(shù)儀器的一小部分，它包含多項專有的技術(shù)，使生產(chǎn)線操作員只需經(jīng)過幾分鐘的培訓(xùn)，即可在幾秒鐘內(nèi)獲得結(jié)論性的讀數(shù)。最小、最大和平均反射率可以在任意數(shù)量的用戶定義的
產(chǎn)品介紹
美國filmetrics 薄膜測量儀F10-AR-UV增透膜測量
輕松且經(jīng)濟地測量減反射涂層和硬質(zhì)涂層
F10-AR 是首的款專為簡單、經(jīng)濟實惠的眼科抗反射 (AR) 涂層測量而設(shè)計的儀器。 AR 涂層測量儀器的成本只是當今使用的大多數(shù)儀器的一小部分，它包含多項專有的技術(shù)，使生產(chǎn)線操作員只需經(jīng)過幾分鐘的培訓(xùn)，即可在幾秒鐘內(nèi)獲得結(jié)論性的讀數(shù)。最小、最大和平均反射率可以在任意數(shù)量的用戶定義的波長范圍內(nèi)進行通過/不通過測試。特殊的算法可以校正由硬涂層引起的局部反射率失真。我們專有的 AutoBaseline 功能可大幅增加基線間隔，其精度比其他基于光纖探頭的反射率測量系統(tǒng)高出五倍。測量硬涂層厚度 0。25-15μm，帶有我們可選的 UPG-F10-AR-HC 軟件升級。即使存在 AR 層，測量硬涂層厚度也沒有問題。
無需背面準備
我們獨的特的探頭設(shè)計可在 1.5 毫米厚的基板上抑制 98% 的背面反射，在更厚的透鏡上抑制更多。與我們所有的薄膜測量系統(tǒng)一樣，F(xiàn)10-AR 可連接到 Windows® 計算機的 USB 端口，并在幾分鐘內(nèi)完成設(shè)置。
美國filmetrics 薄膜測量儀F10-AR-UV增透膜測量
輕松且經(jīng)濟地測量減反射涂層和硬質(zhì)涂層
F10-AR 是首的款專為簡單、經(jīng)濟實惠的眼科抗反射 (AR) 涂層測量而設(shè)計的儀器。 AR 涂層測量儀器的成本只是當今使用的大多數(shù)儀器的一小部分，它包含多項專有的技術(shù)，使生產(chǎn)線操作員只需經(jīng)過幾分鐘的培訓(xùn)，即可在幾秒鐘內(nèi)獲得結(jié)論性的讀數(shù)。最小、最大和平均反射率可以在任意數(shù)量的用戶定義的波長范圍內(nèi)進行通過/不通過測試。特殊的算法可以校正由硬涂層引起的局部反射率失真。我們專有的 AutoBaseline 功能可大幅增加基線間隔，其精度比其他基于光纖探頭的反射率測量系統(tǒng)高出五倍。測量硬涂層厚度 0。25-15μm，帶有我們可選的 UPG-F10-AR-HC 軟件升級。即使存在 AR 層，測量硬涂層厚度也沒有問題。
無需背面準備
我們獨的特的探頭設(shè)計可在 1.5 毫米厚的基板上抑制 98% 的背面反射，在更厚的透鏡上抑制更多。與我們所有的薄膜測量系統(tǒng)一樣，F(xiàn)10-AR 可連接到 Windows® 計算機的 USB 端口，并在幾分鐘內(nèi)完成設(shè)置。
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