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真彩共聚焦顯微鏡

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更新時間：2023-07-17 18:07:18瀏覽次數(shù)：186次

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產(chǎn)品簡介

新型AxioCSM700真彩色共聚焦掃描顯微鏡主要用于材料科學的研究，品質(zhì)檢測和常規(guī)檢查等，可對樣品進行無接觸分析、地形圖測量，采集速度為170幀/秒

詳細介紹

新型Axio CSM 700真彩色共聚焦掃描顯微鏡主要用于材料科學的研究，品質(zhì)檢測和常規(guī)檢查等，可對樣品進行無接觸分析、地形圖測量，采集速度為170幀/秒。操作軟件簡單便捷，可進行粗糙度、厚度和顆粒度分析等。

技術(shù)參數(shù)：
1、光源：氙燈（波長400-700nm）
2、分辨率：0.16um
3、圖像分辨率：1280x1024像素
4、采集速度：7.5fps（高速彩色模式）；>100fps （線幀式掃描模式）
5、色彩深度：3x8bit（RGB）
6、測量高度：15mm，0.01um步進
7、圖像處理與測量：2D，幾何參數(shù)測量，圖像處理
3D，高度、粗糙度、體積、表面積、顆粒度等分析

技術(shù)特點：

1、采用全波段氙燈作為光源，真實反映樣品表面顏色信息
2、采用共聚焦掃描方式成像，具有更高的圖像分辨率
3、無接觸分析，對于樣品表面無損傷，可重復再現(xiàn)測量與分析。
4、超大景深，Axio CSM 700可以獲得掃描電鏡的景深范圍，可實現(xiàn)對負責樣品表面的高度和粗糙度分析。
5、操作簡潔方便，大幅提高工作效率。

產(chǎn)品應(yīng)用：

1 粗糙度分析

對于材料表面的特性檢測，Axio CSM 700 可為用戶提供一個功能全面的非接觸式光學三維表面形貌測量儀。高敏感度的光強探測功能，的共聚焦成像，測量結(jié)果精確。樣品高度的連續(xù)測量和創(chuàng)新的軟件計算系統(tǒng)保證在無震動的環(huán)境條件下獲得的高度信息（測量范圍可從2nm—毫米級）。

Axio CSM 700 顯微鏡可測量粗糙度并快速產(chǎn)生高度的輪廓圖。基于高分辨率和彩色顯微鏡成像，用戶可以決定測量哪個位置的高度以及獲得什么樣的高度輪廓圖，這樣試樣表面被損壞的、沒有代表性的區(qū)域可以被精確遮蓋或用輪廓線代表。另外，3D粗糙度參數(shù)計算執(zhí)行DIN EN ISO 4287標準，可進行表面的分析以獲得3D特征，如潤滑槽的體積。測量結(jié)果可同時顯示曲線圖和振幅密度能用不到1分鐘的時間內(nèi)就可完成二維或三維的粗糙度分析測量。

2 層厚測量
非接觸式，速度快，可重復性
采用非接觸式模式，Axio CSM 700可迅速測量出透明層厚度。通過測量出的數(shù)值，可以得出關(guān)于涂層表面光潔度和其它變量的信息。

次表面界面和細節(jié)
對于多層系統(tǒng)和半透明材料，Axio CSM 700,可以獲得表面下層的組織結(jié)構(gòu)，如不同質(zhì)性、孔洞、夾雜和界面。當知道中間的反射系數(shù)后，就可測得層厚和光路長度。

3 薄層分析
在顯微技術(shù)領(lǐng)域，50 nm到5 µm范圍的層厚正逐漸變得越來越重要（像半導體轉(zhuǎn)換電路和薄膜傳感器）。材料和基底的多樣性要求表面分析和顯微元素分析具有高靈活度。使用Axio CSM 700，可迅速獲得顯微結(jié)構(gòu)成份的輪廓和層厚、輪廓的高度、結(jié)構(gòu)寬度。這些操作都可直接進行，并且對樣品沒有破壞性，不需對樣品制樣，效率高。

4 高分子材料和玻璃質(zhì)量分析
不僅在質(zhì)量控制方面Axio CSM 700具有優(yōu)勢，在高分子和玻璃行業(yè)，Axio CSM 700也同樣具有優(yōu)勢。共聚焦方法可的用于對光學部件和透明部件的3D形貌分析。
使用Axio CSM 700.，在生產(chǎn)過程中，可進行三維的、無損的檢測，以實現(xiàn)對質(zhì)量的控制。對于透鏡的幾何特征，如半徑，通過軟件可自動測量?？蛇M行體積和面積的計算和對比。
在不同的位置和方向，可進行二維的粗糙度分析。在模塑的聚氨酯泡沫部件的生產(chǎn)中，如魚缸的過濾器、麥克風套或計算機鼠標墊，可對其氣孔大小的分布進行測量，以對模塑完的聚氨酯泡沫部件進行質(zhì)量控制。實際上，泡沫部件會有一些典型的缺陷，這是由于對模塑溫度的控制不足或原材料的化學成分方面的原因造成的，從而導致表面質(zhì)地的厚度和氣泡的不同。使用Axio CSM 700，可對泡沫表面進行三維形貌分析，如表面粗糙度的測量、氣泡的體積、接縫和染色，從而提高產(chǎn)品質(zhì)量，減少不合格產(chǎn)品的數(shù)量。