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太赫茲光譜儀(THz FTIR) SPS-300 / 400

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太赫茲光譜儀(THz FTIR) SPS-300 / 400

詳細(xì)介紹

SPS-300/400 大的太赫茲FTIR傅里葉變換光譜儀！

每一件SPS都可謂是一件藝術(shù)品！

SPS-300/SPS-400

加拿大Sciencetech 公司型號(hào)的模塊化極化傅里葉變換光譜儀（FTS）。工作波段為遠(yuǎn)紅外或（THz）太赫茲光譜區(qū)：波長(zhǎng)范圍5μm - 5000μm, 0.06 - 60 THz 或者 2cm^-1 - 2000cm^-1)。

標(biāo)準(zhǔn)的FTS和FTIR系統(tǒng)是基于邁克爾遜（Michelson）構(gòu)架的，而SPS-300/SPS-400也可以基于Martin-Puplett架構(gòu)進(jìn)行工作，提供極化分割和正常測(cè)量時(shí)明顯更寬的帶通，同時(shí)提高了圓形和線性二色性測(cè)量的信噪比。

SPS-300/SPS-400的模塊化設(shè)計(jì)優(yōu)勢(shì)突出。基于我們的內(nèi)部光源，外部輸入和雙輸出端口模塊化設(shè)計(jì)，客戶可以把SPS-300/SPS-400配置為遠(yuǎn)紅外/太赫茲光源頻譜分析儀（附加一個(gè)外部熱輻射檢測(cè)儀），或者配置為一臺(tái)材料透過和反射光譜儀（配帶一個(gè)外部光源，一個(gè)采樣腔和檢測(cè)器）。

SPS-300/SPS-400還配有一個(gè)125mm線柵極化分束器和一個(gè)麥拉(Mylar)分束器。線柵極化分束器支持用戶操作運(yùn)行極化Martin-Puplett模式，相比采用麥拉分束器的標(biāo)準(zhǔn)邁克爾遜（Michelson）模式，可以覆蓋更寬范圍。

三種配置類型

重要說明： 為了配置下述三種類型的光譜儀（頻譜分析儀，太赫茲圓形線性二色性光譜儀，材料透過/反射光譜儀），是需要一些額外部件的。請(qǐng)就具體應(yīng)用和項(xiàng)目細(xì)節(jié)聯(lián)系我們。

根據(jù)需要，SPS-300/SPS-400 可以配置為如下類型

頻譜分析儀

SPS-300/SPS-400 作為頻譜分析儀：通過在外部輸入端口安裝一個(gè)外部太赫茲光源，在凝聚光束輸出端口安裝一個(gè)外部太赫茲?rùn)z測(cè)器。

Sciencetech公司提供多種檢測(cè)器選項(xiàng)：室溫?zé)犭姍z測(cè)器，室溫DTGS檢測(cè)器或氦氣制冷熱輻射檢測(cè)器。當(dāng)然，客戶也可以選擇第三方檢測(cè)器。

太赫茲圓形線性二色性光譜儀

在極化模式下，SPS-300/SPS-400可以作為材料透光，圓二色性，線性二色性的有力研究工具，且具有很高的信噪比。

在~600cm以下測(cè)量振動(dòng)圓二色性（VCD）是對(duì)現(xiàn)代物理實(shí)驗(yàn)的一個(gè)挑戰(zhàn)，極化-分割干涉儀被認(rèn)為是進(jìn)行此類觀測(cè)的方法。此類干涉儀最關(guān)鍵的部件是根據(jù)極化特性分割入射光束的分束器。 Sciencetech公司提供的大面積柵格偏光鏡，由沉積在聚酯薄膜基底上的金屬線組成，在500cm^-1~ 2.0cm^-1光譜范圍內(nèi)是非常有效的分束器。

材料透過/反射光譜儀

SPS-300/SPS-400 作為材料透過/反射光譜儀：通過在準(zhǔn)直光束輸出端口安裝一個(gè)外部樣品室，在樣品室探測(cè)器輸出端口安裝一個(gè)太赫茲?rùn)z測(cè)器。

例如， SPS403樣品室和檢測(cè)器同時(shí)支持透過和反射測(cè)量。太赫茲光源可以采用SPS-300/SPS-400內(nèi)部的寬帶貢弧光燈。

另外，其它類型的寬帶太赫茲光源，比如硅碳棒或耿氏振蕩器也可以配置到外部輸入光源端口。請(qǐng)注意，SPS-300/SPS-400基本配置不包含這些選配部件。

SPS-300的基本配置

- 不銹鋼真空額定外殼

- 電動(dòng)頂鏡瞄準(zhǔn)系統(tǒng)

- 邁克爾遜操作模式

- 75W汞弧燈光源

- 伺服電器斬波器

- 線柵極化分束器用于Martin-Puplett模式（還需要一臺(tái)輸入偏光鏡和一個(gè)旋轉(zhuǎn)或固定位置分析器）

- 真空柜

- 帶SPS控制軟件的電腦主機(jī)

- 弧光燈電源和打火器

推薦擴(kuò)展部件

- 真空泵系統(tǒng)，以便維持10^-3Torr真空度

- SPS-300內(nèi)部真空

- 循環(huán)水制冷器

- 檢測(cè)器，鎖定放大器和GPIB接口卡

- 頻譜分析儀配置組件

- 材料光譜儀配置組件

- 采樣腔

主要硬件特征

- 模塊化設(shè)計(jì)，適合遠(yuǎn)紅外/太赫茲光譜分析或材料光譜儀

- 雙極化Martin-Puplett 和Michaelson干涉儀架構(gòu)，取決于采用的分束器

- 極化?？觳捎霉I(yè)細(xì)4μm Mylar麥拉柵格分束器

- 支持外部第三光源和探測(cè)器

- 支持客戶定制外部樣品腔

- 標(biāo)準(zhǔn)精確的步進(jìn)和格柵模式

- 大面積100mm鍍金光學(xué)系統(tǒng)

- 寬光譜范圍：2-2000cm^-1（5μm-5mm）。

- 0.12cm^-1分辨率（標(biāo)準(zhǔn)模式，50mm平移臺(tái)）

- 0.02cm^-1分辨率（高分辨率模式，升級(jí)為300mm平移臺(tái)）

- 真空密封度高達(dá)10^-3Torr，有效消除大氣水汽光譜吸收

標(biāo)準(zhǔn)軟件特征

主機(jī)PC和軟件

隨SPS-300/SPS-400提供一臺(tái)PC帶平板顯示器，預(yù)置控制軟件，并提供軟件CD版。 SPS-300/SPS-400控制軟件基于LabView應(yīng)用在Windows PC系統(tǒng)下工作（通過第三方也可以提供支持Mac OS系統(tǒng)）。提供給客戶的一套可執(zhí)行版本無需LabView開發(fā)環(huán)境。

模塊化LabView VI 結(jié)構(gòu)

用戶可以自由添加LabView 虛擬儀器（VI）而無需重新編譯SPS-300/SPS-400軟件。

LabView VI通常對(duì)掃描試驗(yàn)中的外設(shè)集成很有用（比如樣品室，光源，溫度控制和磁場(chǎng)掃描等）

掃描和處理模式

SPS-300/SPS-400通過采集已知變換距離下的探測(cè)結(jié)果生成一個(gè)干涉圖。在標(biāo)準(zhǔn)的步進(jìn)和格柵模式下，每次探測(cè)讀數(shù)，鏡子都停止在預(yù)設(shè)的位置。在停止?fàn)顟B(tài)下，探測(cè)器可以有時(shí)間獲得更好的信噪比，而探測(cè)器讀數(shù)和鏡子位置的關(guān)系是精確已知的。

SPS-300/SPS-400軟件可以同時(shí)支持掃描和數(shù)據(jù)分析。軟件在自己的Window窗口運(yùn)行而不受后臺(tái)其它程序的影響。利用簡(jiǎn)單命令集就可以實(shí)現(xiàn)自動(dòng)采集數(shù)據(jù)，支持自動(dòng)測(cè)量。

主要軟件特征

- “停止和掃描"操作模式

- 數(shù)據(jù)采集和自動(dòng)日志記錄

- ASCII格式文件存儲(chǔ)數(shù)據(jù)，方便導(dǎo)入其它數(shù)據(jù)分析軟件

- 掃描和分析多任務(wù)同步運(yùn)行

數(shù)據(jù)分析和處理

- 采用Fertz-Forman相位校正法

- 變換：貝塞爾，boxcar，余弦，三角

- 快速掃描信號(hào)數(shù)字濾波

- 加，減，歸一化，乘（干涉圖或光譜）

- 平均和標(biāo)準(zhǔn)差（干涉圖或光譜）

- 數(shù)據(jù)擬合采用用戶定義函數(shù)