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廠(chǎng)商性質(zhì)其他
所 在 地北京市
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更新時(shí)間：2024-10-21 17:39:31瀏覽次數(shù)：161次
聯(lián)系我時(shí)，請(qǐng)告知來(lái)自 環(huán)保在線(xiàn)SPM-8000FM高分辨率掃描型探針顯微鏡島津能夠提供鋼鐵、有色金屬、環(huán)境、食品、化工、制藥、半導(dǎo)體、陶瓷及高分子等眾多領(lǐng)域客戶(hù),多種樣品分析所需要的種類(lèi)繁多的分析儀器。電子探針（EPMA）分析對(duì)象從幾厘米到幾微米；X射線(xiàn)光電子能譜儀（XPS）分析對(duì)象從幾毫米到幾微米；掃描探針顯微鏡（SPM）觀(guān)察范圍從100微米到幾納米。
SPM-8000FM高分辨率掃描型探針顯微鏡
HR-SPM HR-SPM是采用頻率檢測(cè)方式（Frequency Modulation）的新一代掃描探針顯微鏡。不僅可在大氣·液體環(huán)境中實(shí)現(xiàn)超高分辨率的觀(guān)察，還*實(shí)現(xiàn)了固液界面的水化作用層（hydration）·溶劑化作用層（solvation）的觀(guān)察。 |  |
●采用FM(頻率調(diào)制)方式 以往的SPM（掃描型探針顯微鏡）/AFM（原子力顯微鏡）是AM（振幅調(diào)制）方式，而FM（頻率調(diào)制）方式從原理上就因?yàn)楦哽`敏度檢測(cè)從而可實(shí)現(xiàn)更高的分辨率。 SPM：Scanning Probe Microseope |  |
液體中原子分辨率觀(guān)察
 | 圖為在飽和溶液中觀(guān)察NaCl表面的原子排列。以往AFM（AM方式：左）湮沒(méi)在噪聲中的原子通過(guò)FM方式（右）則可以清晰地觀(guān)察到。 FM方式可以得到真正的原子分辨率（True Atomic Resolution）。 |
大氣中Pt催化粒子的KPFM觀(guān)察
 | TiO2基板上的Pt催化粒子被識(shí)別了出來(lái)，并通過(guò)KPFM進(jìn)行表面電勢(shì)的測(cè)定?？梢杂^(guān)察到數(shù)nm大小的Pt粒子和基板間的電荷交換。右圖中，紅色○區(qū)域是正電勢(shì)，藍(lán)色□區(qū)域是負(fù)電勢(shì)?？梢?jiàn)對(duì)于KPFM觀(guān)察，分辨率也得到了大幅的提高。 ＊KPFM（Keivin Probe Force Microscope）功能為特殊定制。 |
<引用文獻(xiàn)>
| 1) | Ryohei Kokawa, Masahiro Ohta, Akira Sasahara, Hiroshi Onishi, Kelvin Probe Force Microscopy Study of a Pt/TiO2 Catalyst Model Placed in an Atmospheric Pressure of N2 Environment, Chemistry - An Asian Journal, 7, 1251-1255 (2012). |
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