上海德竹芯源科技有限公司
詳細摘要： 激光橢偏儀 SE 400adv 測量透明薄膜的厚度和折射率指數(shù)，具有測量速度、亞埃級別的厚度精度和折射率測定的精度。多角度測量允許使用激光橢偏儀 SE 400a...
產(chǎn)品型號：SE 400adv所在地：上海更新時間：2024-02-14 在線留言
詳細摘要： 光譜橢偏儀 SENpro 具有操作簡單，測量速度快，能對不同入射角的橢偏測量數(shù)據(jù)進行組合分析等特點。光譜范圍為 370 到 1050 nm。SENpro 的光譜...
產(chǎn)品型號：SENpro所在地：上海更新時間：2024-02-13 在線留言
詳細摘要： SENresearch 4.0 是 SENTECH 新的光譜橢偏儀。每一臺 SENresearch 4.0 光譜橢偏儀都是根據(jù)客戶具體配置的光譜范圍、選項和現(xiàn)場...
產(chǎn)品型號：SENresearch 4.0所在地：上海更新時間：2024-02-12 在線留言
詳細摘要： nanoTOF 3 是新一代的 TOF-SIMS，擁有新外觀、緊湊設(shè)計，以及更強性能。
產(chǎn)品型號：nanoTOF 3所在地：上海更新時間：2023-10-10 在線留言
詳細摘要： 高分辨率X射線衍射儀，主要用途為測量 Si, Ge, SiC, GaN, InGaN, AlGaN, GaAs, InP, AlN, GaSb 等化合半導體材料...
產(chǎn)品型號：XPert3 MRD所在地：上海更新時間：2023-10-03 在線留言
詳細摘要： Strain Viewer 內(nèi)應(yīng)力檢測儀具備透光材料內(nèi)應(yīng)力分布測量及缺陷篩查等檢測功能。
產(chǎn)品型號：SV50 / SV200所在地：上海更新時間：2023-09-28 在線留言
詳細摘要： 動態(tài)二次離子質(zhì)譜儀（D-SIMS）是使用一次離子束（通常是Cs源）轟擊樣品表面，而產(chǎn)生二次離子，然后用質(zhì)譜分析儀分析二次離子的質(zhì)荷比（m/q），從而得知元素在樣...
產(chǎn)品型號：ADEPT 1010所在地：上海更新時間：2023-09-22 在線留言您感興趣的產(chǎn)品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
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