硬盤芯片測試兩箱式冷熱沖擊試驗(yàn)箱

1.造型設(shè)計(jì)：圓弧造型及表面噴塑處理，高質(zhì)感外觀，更顯潔凈美觀。
2.箱體內(nèi)膽采用(SUS304)不銹鋼板。
3.箱體外殼采用A3鋼板數(shù)控機(jī)床加工成型，造型美觀大方。
4.觀察窗：高溫箱安裝矩形多層中空隔熱玻璃熱玻璃觀察窗一個(gè)(300×200mm ).觀察窗上安裝照明燈。
5.本冷熱沖擊試驗(yàn)箱分為高溫區(qū)、低溫區(qū)、測試區(qū)三部分，具之?dāng)酂峤Y(jié)構(gòu)及蓄熱蓄冷效果。
6.可獨(dú)立設(shè)定高溫、低溫及冷熱沖擊三種不同條件的功能，并于執(zhí)行冷熱沖擊條件時(shí)，可選擇二槽或三槽之功能，具有高低溫試驗(yàn)箱的功能。
7.試驗(yàn)時(shí)待測物靜止，應(yīng)用冷風(fēng)路切換方式導(dǎo)入試品中，做冷熱沖擊測試試驗(yàn)。
8.保溫材料采用防火和隔熱高密度纖維棉。
9.測試區(qū)內(nèi)附上下可調(diào)不銹鋼盤兩組，便于吊藍(lán)上下轉(zhuǎn)換的隔溫性。
10.樣品架承重量為：(162型、300型20kg)(500型30kg)(010型50kg)。
11.箱體左側(cè)配Φ50mm測試孔一個(gè)，可供外接測試電源線或信號(hào)線使用。
12.冷熱沖擊試驗(yàn)箱箱體底部加裝高質(zhì)量承載PU活動(dòng)輪，便于客戶移動(dòng)設(shè)備。

硬盤芯片測試兩箱式冷熱沖擊試驗(yàn)箱

技術(shù)參數(shù)：

1.溫度范圍：-20℃～150℃
2.濕度范圍：20%～98%R.H
3.溫度均勻度：≤±2℃（空載時(shí)）
4.濕度均勻度：+2%-3%R.H
5.溫度波動(dòng)度：≤±0.5℃（空載時(shí)）
6.濕度波動(dòng)度：±2%
7.溫度偏差：≤±2℃
8.濕度偏差：≤±2%
9.降溫速率：0.7～1.0℃/min
10.升溫速率：1.0～3.0℃/min
11.時(shí)間設(shè)定范圍：0～999小時(shí)
12.電源電壓：380V±10%
13.設(shè)備總功率：3KW～15KW

制冷優(yōu)點(diǎn):

10、傳統(tǒng)設(shè)備低溫控制方式：

制冷壓縮機(jī)啟停控制溫度（溫度波動(dòng)大、嚴(yán)重影響壓縮機(jī)壽命，已淘汰的技術(shù)）

制冷壓縮機(jī)恒定運(yùn)行+加熱PID 控制（導(dǎo)致制冷量與加熱相抵消實(shí)現(xiàn)溫度動(dòng)態(tài)平衡，浪費(fèi)了大量的電能）

11、PWM 冷控制技術(shù)實(shí)現(xiàn)低溫節(jié)能運(yùn)行：低溫工作狀態(tài)，加熱器不參與工作，通過PWM 技術(shù)控制調(diào)節(jié)制冷機(jī)組制

冷劑流量和流向，對制冷管道、冷旁通管道、熱旁通管道三向流量調(diào)節(jié)，實(shí)現(xiàn)對工作室溫度的自動(dòng)恒定。此方式在低溫工況下，可實(shí)現(xiàn)降低40%的能耗。