少子壽命測試儀

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參考價(jià):￥300000 - ￥2000000 /件

具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

產(chǎn)品型號(hào)
品牌
其他品牌
廠商性質(zhì)
經(jīng)銷商
所在地
西安市

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更新時(shí)間：2024-08-14 16:48:19瀏覽次數(shù)：118次

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少子壽命測試儀

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陜西衛(wèi)水環(huán)?？萍加邢薰?/a>

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商鋪產(chǎn)品：7條

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聯(lián)系人：聶工（經(jīng)理）

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產(chǎn)品簡介

產(chǎn)地	國產(chǎn)	類型	無損傷

設(shè)備主要利用微波測試原理，非接觸測試半導(dǎo)體材料，石墨烯，透明導(dǎo)電膜，碳納米管，金屬等材料的電學(xué)特性?？蓪?shí)現(xiàn)單點(diǎn)測試，亦可以實(shí)現(xiàn)面掃描的測試功能，具有快速，無損，準(zhǔn)確等優(yōu)勢，可用于材料研發(fā)及工藝的監(jiān)測及質(zhì)量控制。

詳細(xì)介紹

測試范圍廣：包括硅塊、硅棒、硅芯、檢磷棒、檢硼棒、籽晶、硅片等的少子壽命及鍺單晶的少子壽命測量。

■主要應(yīng)用于硅棒、硅芯、檢磷棒、檢硼棒、籽晶、硅塊、硅片的進(jìn)廠、出廠檢查，生產(chǎn)工藝過程中重金屬沾污和缺陷的監(jiān)控等。

■適用于低阻硅料少子壽命的測量，電阻率測量范圍可達(dá)ρ>0.1Ω?cm（可擴(kuò)展至0.01Ω?cm），完了微波光電導(dǎo)無法檢測低阻單晶硅的問題。

■全程監(jiān)控動(dòng)態(tài)測試過程，避免了微波光電導(dǎo)（u-PCD）無法觀測晶體硅陷阱效應(yīng)，表面復(fù)合效應(yīng)缺陷的問題。

■貫穿深度大，達(dá)500微米，相比微波光電導(dǎo)的30微米的貫穿深度，真正體現(xiàn)了少子的體壽命的測量，避免了表面復(fù)合效應(yīng)的干擾。

■專業(yè)定制樣品架地滿足了原生多晶硅料生產(chǎn)企業(yè)測試多種形狀的硅材料少子壽命的要求，包括硅芯、檢磷棒、檢硼棒等。

■性價(jià)比高，價(jià)格遠(yuǎn)低于國外國外少子壽命測試儀產(chǎn)品，極大程度地降低了企業(yè)的測試成本。

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