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AT810 采用高能處理器,使用高亮彩色VFD屏幕的智能LCR測(cè)試儀器。大規(guī)模的貼片技術(shù)的運(yùn)用,使得AT810僅需微型機(jī)箱即可容納。依賴于安柏科技*的技術(shù),使其...
AT810A 采用高性能處理器,使用真彩色LCD屏幕的智能LCR測(cè)試儀器。依賴于安柏*的技術(shù),使其性能無可挑剔。內(nèi)建10Hz~20kHz 任意測(cè)試頻率設(shè)置,分辨...
AT811精簡了全功能型AT810的電路,大規(guī)模的貼片技術(shù)的運(yùn)用,使用安柏科技經(jīng)典的微型機(jī)箱。內(nèi)建100Hz、120Hz、1kHz和10kHz測(cè)試頻率,并且提供...
AT816A精密LCR 數(shù)字電橋 全自動(dòng)測(cè)試、無需人為參與,您只需插入L、C或是R,儀器自動(dòng)為您配置Z佳測(cè)試條件,這些包括:自動(dòng)LCR選擇,自動(dòng)量程選擇和等效方...
AT2816A為連續(xù)頻率,頻率步進(jìn)0.001Hz。采用了真彩 TFT-LCD,全中文操作界面(可配置成英文界面),使用的儀器實(shí)時(shí)操作系統(tǒng) ATOS_V4,菜單軟...
AT2816B提供33個(gè)基本頻率,覆蓋從50Hz~200kHz;0.01V至2.00V的任意電平;Z大256次平均,14檔分選結(jié)果輸出。
AT817 內(nèi)建50Hz~100kHz 10點(diǎn)測(cè)試頻率,并且提供0.1V、0.3V和1V測(cè)試電平,使其能*多數(shù)生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)的使用。
AT2817內(nèi)建50Hz~100kHz 10點(diǎn)測(cè)試頻率,并且提供0.1V,0.3V和1.0V的測(cè)試電平,使其能*多數(shù)生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)的使用。
AT2817A 內(nèi)建50Hz~100kHz 16點(diǎn)測(cè)試頻率,并且提供0.01V~2.00V任意測(cè)試電平,使其能*多數(shù)生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)的使用。
AT2818*滿足現(xiàn)有條件測(cè)試:10Hz~300kHz,連續(xù)頻率,0.001Hz分辨率,Z高到300kHz的測(cè)試頻率,0.01V至2.00V的任意電平,內(nèi)置和外...
AT820 LCR數(shù)字電橋 100Hz,120Hz和1kHz三檔測(cè)試頻率,可測(cè)試L, C, R, Z, D, Q六種參數(shù)。較強(qiáng)抗沖擊能力。
AT821 LCR數(shù)字電橋:100Hz,120Hz,1kHz和10kHz四檔測(cè)試頻率,可測(cè)試L, C, R, Z, D, Q六種參數(shù)。內(nèi)建比較器,使其適合元件分...
精密LCR數(shù)字電橋AT2817內(nèi)建50Hz~100kHz 10點(diǎn)測(cè)試頻率,并且提供0.1V,0.3V和1.0V的測(cè)試電平,使其能*多數(shù)生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)的使用。使用安柏實(shí)...
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