西安天光測控技術(shù)有限公司
會員1.png)
詳細(xì)摘要： IGBT動態(tài)參數(shù)開關(guān)短路反向恢復(fù)測試系統(tǒng)概述IGBT是廣泛應(yīng)用于現(xiàn)代中、大功率變換器中的主流半導(dǎo)體開關(guān)器件，其開關(guān)特性決定裝置的開關(guān)損耗、功率密度、器件應(yīng)力以及...
產(chǎn)品型號：TRd 2015所在地：西安市更新時間：2023-09-13 在線留言
詳細(xì)摘要： *品牌：天光測控半導(dǎo)體器件老化測試篩選系統(tǒng)*型號：ST-PC_X*用途：可測試 Si / SiC / GaN 材料的 IGBTs / DIODEs / MOSF...
產(chǎn)品型號：ST-PC_X所在地：西安市更新時間：2023-09-13 在線留言
詳細(xì)摘要： 天光測控IGBT開關(guān)特性測試儀——型號：供應(yīng)廠家：天光測控；型號：ST-DP_X（1200V200A）；用途：用于Si/SiC/GaN 材料的 MOSFET&I...
產(chǎn)品型號：ST-DP_X所在地：西安市更新時間：2023-09-13 在線留言您感興趣的產(chǎn)品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
環(huán)保在線 設(shè)計制作，未經(jīng)允許翻錄必究 .? ? ?
請輸入賬號
請輸入密碼
請輸驗證碼
