日本用于半導(dǎo)體材料厚度檢測(cè)設(shè)備-非接觸式測(cè)厚儀
<用途>
半導(dǎo)體（各種材料）的晶片硅Si.GaAs砷化鎵等，玻璃，金屬，化合物等的高精度非接觸式厚度測(cè)量（非接觸式厚度測(cè)量）
<功能>
1. 1。可以通過(guò)空氣背壓法進(jìn)行非接觸式厚度測(cè)量（非接觸式厚度測(cè)量），并且不會(huì)造成刮擦和污染等損壞
。可以輕松進(jìn)行高精度的非接觸式厚度測(cè)量（非接觸式厚度測(cè)量），而無(wú)需依賴(lài)諸如薄膜和彩色光澤之類(lèi)的材料
。潮濕時(shí)可以進(jìn)行高精度的非接觸式厚度測(cè)量（非接觸式厚度測(cè)量）
。即使鏡面透明或半透明，也可以毫無(wú)問(wèn)題地進(jìn)行高精度的非接觸式厚度測(cè)量（非接觸式厚度測(cè)量）
。由于使用上下測(cè)量噴嘴進(jìn)行測(cè)量，因此
可以精確地測(cè)量“厚度”，而不受測(cè)量對(duì)象“打滑”引起的提升的影響。
（也可以選擇“滑行”測(cè)量（* 1））
6。由于操作簡(jiǎn)便，因此可以非常輕松地進(jìn)行測(cè)量和校準(zhǔn)（* 2）。
<測(cè)量原理>
精確控制上下測(cè)量噴嘴的背壓，對(duì)噴嘴進(jìn)行定位，使噴嘴和被測(cè)物體之間的間隙保持恒定，并使用預(yù)先用基準(zhǔn)量規(guī)校準(zhǔn)的值進(jìn)行比較計(jì)算處理?？梢詫?duì)被測(cè)物進(jìn)行測(cè)量操作，可以精確地計(jì)算出厚度。
<性能>
分辨率0.1μm
重復(fù)精度10次重復(fù)測(cè)量時(shí)的標(biāo)準(zhǔn)偏差（1σ）0.3μm以下
。z大測(cè)量范圍。10mm（* 3）
供應(yīng)能源電源AC100V 50 / 60Hz 3A
清潔空氣0.4MPa 20NL /分鐘（* 4）
