束蘊(yùn)儀器（上海）有限公司
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詳細(xì)摘要： MDPpro 晶圓片晶錠壽命檢測(cè)儀用于常規(guī)質(zhì)量控制、精密材料研發(fā)的單晶和多晶片及晶錠的壽命測(cè)量
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：上海市更新時(shí)間：2020-08-21 在線留言
詳細(xì)摘要： 臺(tái)式PID潛在誘導(dǎo)退化測(cè)試儀用于c-Si太陽(yáng)能電池和光伏迷你組件的售前和安裝后質(zhì)量檢測(cè)。
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：上海市更新時(shí)間：2020-08-21 在線留言
詳細(xì)摘要： 微波探測(cè)的MDPpicts光感應(yīng)電流瞬態(tài)圖譜檢測(cè)，非接觸且無(wú)損傷，用于溫度依賴(lài)的少數(shù)載流子壽命測(cè)量以及半導(dǎo)體的界面陷阱和體陷阱能級(jí)的電性能表征。
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：上海市更新時(shí)間：2020-08-21 在線留言
詳細(xì)摘要： MDPinline是一種用于快速定量測(cè)量載流子壽命并集成掃描功能的檢測(cè)儀。通過(guò)工廠安裝的傳送帶將晶圓片移至儀器，在不到一秒的時(shí)間內(nèi)，就可以“動(dòng)態(tài)"測(cè)量出晶圓圖。
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：上海市更新時(shí)間：2020-03-27 在線留言
詳細(xì)摘要： 靈活的OEM設(shè)備，用于多種不同樣品的在線壽命測(cè)量：從單晶硅到多晶硅錠，從生成態(tài)晶圓片到不同鍍層或金屬化晶圓的過(guò)程控制。標(biāo)準(zhǔn)軟件接口，易于連接到許多處理或自動(dòng)化系...
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：上海市更新時(shí)間：2020-03-27 在線留言
詳細(xì)摘要： 用于精密材料研發(fā)的單晶和多晶片的壽命測(cè)量
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：上海市更新時(shí)間：2020-03-27 在線留言您感興趣的產(chǎn)品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
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