高分辨率表層缺陷超聲波掃描顯微鏡系統(tǒng)

KSI Nano型超聲波掃描顯微鏡是擁有高分辨率的聲學顯微成像系統(tǒng)，它能對實測器件的表層缺陷作超高分辨缺陷檢測。

在使用100MHz——2000MHz的超高頻超聲波時，這種分辨率得以實現(xiàn)。

KSI nano 還包含一個倒置光學顯微鏡，在進行超聲波檢測前可利用它調整樣品的位置。

高分辨率表層缺陷超聲波掃描顯微鏡系統(tǒng)還應用于世界各地的生命和物質科學研究。

- 換能器頻率范圍：100MHz——2000MHz頻率實現(xiàn)高分辨率
- 探測深度<100nm
- 特殊平均模式使信噪比更好
- 同步光學成像和超聲波成像使樣品在結構上、生物化學性能上和機械性能上具有關聯(lián)性。
- 光聲效應增強了對比性
- 放大倍數(shù)：1000倍
- 入射光顯微鏡和倒置光學顯微鏡可調節(jié)

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