公司介紹
德國(guó)HP Spectroscopy公司成立于2012年,致力于為科研及工業(yè)領(lǐng)域的客戶(hù)定制解決方案,是科學(xué)儀器的供應(yīng)商和開(kāi)發(fā)商。產(chǎn)品線(xiàn)包括XAS系統(tǒng),XUV/VUV/X-ray光譜儀,beamline產(chǎn)品等。主要團(tuán)隊(duì)由x射線(xiàn)、光譜、光柵設(shè)計(jì)、等離子體物理、beamline等領(lǐng)域的專(zhuān)家組成。并的研究機(jī)構(gòu)的科學(xué)家維持緊密合作,關(guān)注前沿技術(shù),保持產(chǎn)品的迭代與創(chuàng)新。
產(chǎn)品簡(jiǎn)介
*一體化桌面NEXAFS系統(tǒng)
不在需要申請(qǐng)和等待同步輻射機(jī)時(shí)
用于地質(zhì)、生物、材料研究的化學(xué)態(tài)分析
同步輻射級(jí)的光譜質(zhì)量
proXAS是一臺(tái)實(shí)驗(yàn)室級(jí)別NEXAFS測(cè)量的系統(tǒng)。 現(xiàn)在可以在科研人員自己的實(shí)驗(yàn)室進(jìn)行獲得快速,準(zhǔn)確的元素指紋分析。 它結(jié)合了高度可靠的激光驅(qū)動(dòng)等離子體XUV光源和定制的具有1900*分辨能力的光譜儀。200-1200eV的能量范圍允許分析C,N,O,Ca,Ti等元素邊。
測(cè)量結(jié)果
左圖是用桌面系統(tǒng)測(cè)試200nm聚酰亞胺薄膜的碳K邊NEXAFS光譜(60發(fā)脈沖平均值)。右圖為桌面系統(tǒng)測(cè)試結(jié)果與同步輻射測(cè)試結(jié)果的對(duì)比。 (data courtesy of Dr. K. Mann, IFNANO) |
主要參數(shù)
光源 | 無(wú)碎片的激光驅(qū)動(dòng) XUV 光源 |
能量范圍 | 200-1200eV / 1-6nm |
重復(fù)頻率 | 25Hz |
光源功率穩(wěn)定性 | ±1.5% |
光譜儀 | 像差校正平場(chǎng)光譜儀 |
分辨率 | 1900 |
樣品安裝 | 多樣品轉(zhuǎn)輪 |
占地面積 | 1.5m x 1.0m |
軟件套件 | 集成系統(tǒng)控制,各種光譜校準(zhǔn)和分析功能 |
主要應(yīng)用
l 表面科學(xué)
l 地球化學(xué)中的化學(xué)狀態(tài)分析
l 電子結(jié)構(gòu)與氧化態(tài)分析