孚光精儀公司
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詳細(xì)摘要： 高分辨率掃描電子顯微鏡SEM-200具有3nm分辨率能力和競爭力的掃描電鏡價格,廣泛用于科研單位使用
產(chǎn)品型號：FPMRC-SEM-200所在地：更新時間：2023-03-13 在線留言
詳細(xì)摘要： 這款臺式掃描電子顯微鏡ScanningElectronMicroscope是為客戶提供的歐洲性價比掃描電鏡，改變了動輒百萬人民幣的電鏡價格，它為用戶提供低價亞微...
產(chǎn)品型號：FPMICR-SEM所在地：更新時間：2023-03-12 在線留言
詳細(xì)摘要： 該硅片TTV厚度測試儀是采用紅外干涉技術(shù)的硅片厚度測量儀，能夠精確測量硅片厚度和測量TTV總厚度變化，也能實時測量超薄晶圓厚度（掩膜過程中的晶圓），硅片厚度測試...
產(chǎn)品型號：FPZEB-P-1D所在地：更新時間：2023-01-24 在線留言
詳細(xì)摘要： 單點硅片測厚儀是采用單點測厚技術(shù)為硅晶圓厚度測量設(shè)計的硅晶圓測厚儀器
產(chǎn)品型號：FPEH0-MX30所在地：更新時間：2023-01-23 在線留言
詳細(xì)摘要： 單晶多晶硅片壽命測試儀是專用為晶圓品質(zhì)檢驗,測量少子壽命,測量光電導(dǎo)率和電阻率等研發(fā)的晶圓壽命測試儀器
產(chǎn)品型號：FPFRE-MDPMap所在地：更新時間：2023-01-22 在線留言
詳細(xì)摘要： OLED壽命測試儀提供長期穩(wěn)定的OLED壽命測量功能,為優(yōu)化OLED器件穩(wěn)定性降低OLED衰退提供幫助
產(chǎn)品型號：FPOSS-OLED-lifetime所在地：更新時間：2022-12-30 在線留言
詳細(xì)摘要： 晶圓分揀機(jī)器人是為大尺寸晶圓硅片分揀分選設(shè)計的自動晶圓分揀機(jī)系統(tǒng)，可分選高達(dá)12尺寸晶圓
產(chǎn)品型號：FPEH-Robot Sorter所在地：更新時間：2022-12-23 在線留言
詳細(xì)摘要： 這款自動光譜橢偏儀M300是一種自動變角光譜橢偏儀和深紫外光譜橢偏儀,具有250-1100nm的波長范圍，并具有自動改變?nèi)肷浣堑墓δ?
產(chǎn)品型號：FPANG-SE200BA-M300所在地：更新時間：2022-12-05 在線留言
詳細(xì)摘要： 這款反射式光譜橢偏儀MSP具有250-1000nm的波長范圍，可與顯微分光光度計聯(lián)合使用，測量極小斑點的薄膜厚度和折射率，可廣泛用于MEMS，半導(dǎo)體晶圓等領(lǐng)域,...
產(chǎn)品型號：FPANG-SE200BA-MSP所在地：更新時間：2022-12-04 在線留言
詳細(xì)摘要： 這款手動光譜橢偏儀是一種手動變角光譜橢偏儀和深紫外光譜橢偏儀,具有250-1100nm的波長范圍，手動改變?nèi)肷浣?
產(chǎn)品型號：FPANG-SE200BM-M300所在地：更新時間：2022-12-03 在線留言
詳細(xì)摘要： 這款大型光譜橢偏儀SE200BM-M450具有450mm直徑樣品臺，提供更為安全的樣品操作和定位，具有250-850nm的波長范圍，是美國Angstrom公司為...
產(chǎn)品型號：FPANG-SE200BE-M450所在地：更新時間：2022-12-02 在線留言
詳細(xì)摘要： 這款光伏太陽能光譜橢偏儀是款專業(yè)為光伏太陽能領(lǐng)域的薄膜測量而開的手動光伏橢偏儀，這款光伏太陽能光譜橢偏儀為光伏薄膜測量研究提供便利，具有實時測量薄膜厚度和薄膜厚...
產(chǎn)品型號：FPANG-SE200BE-solar所在地：更新時間：2022-12-01 在線留言
詳細(xì)摘要： 這款手動低價光譜橢偏儀是高性價比手動橢偏儀,它采用手動改變測角計入射角技術(shù),相比于自動改變?nèi)肷浣堑淖詣庸庾V橢偏儀價格更低
產(chǎn)品型號：FPANG-SE300BE所在地：更新時間：2022-11-28 在線留言
詳細(xì)摘要： 這款高級自動光譜橢偏儀是自動變角橢偏儀,能夠自動改變測角計入射角的spectroscopicellipsometer,角度改變步進(jìn)高達(dá)0.01度，光譜范圍覆蓋2...
產(chǎn)品型號：FPANG-SE500BA所在地：更新時間：2022-11-27 在線留言
詳細(xì)摘要： 這款三維臺階儀是德國進(jìn)口的高精度光學(xué)臺階儀器,也是一款光學(xué)表面臺階儀適合臺階高度測量,具有較低的進(jìn)口臺階儀品牌臺階儀價格,適合對表面幾何形狀和表面紋理分析,以標(biāo)...
產(chǎn)品型號：FPTTZ-STEP-profiler所在地：更新時間：2022-11-25 在線留言
詳細(xì)摘要： 這款掃描近場光學(xué)顯微鏡SNOM融合了的掃描探針技術(shù)和光學(xué)顯微鏡技術(shù)，它把微型光學(xué)探針非常接近材料樣品表面，實現(xiàn)近場成像，獲得光學(xué)信息后提供的圖像分辨率可達(dá)100...
產(chǎn)品型號：FPAPE-SNOM所在地：更新時間：2022-11-14 在線留言
詳細(xì)摘要： 納米壓痕儀通過掃描材料表面實現(xiàn)對材料力學(xué)性能的納米尺度的高精度測量，精確給出硬度，彈性模量，楊氏模量等材料力學(xué)性能，并實現(xiàn)靜態(tài)壓痕測量和動態(tài)壓痕測量以及scle...
產(chǎn)品型號：FPNAN-3Dcom所在地：更新時間：2022-09-13 在線留言您感興趣的產(chǎn)品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
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