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aixACCT雙光束激光干涉儀aixDBLI

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更新時間：2022-11-16 14:56:57瀏覽次數(shù)：257次

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產(chǎn)品簡介

產(chǎn)品介紹機電大信號應(yīng)變和極化測量

詳細介紹

產(chǎn)品介紹

機電大信號應(yīng)變和極化測量。

壓電小信號系數(shù)和介電常數(shù)與直流偏置電壓的關(guān)系。如果已知剛度值，則可以使用附加的aixPlorer軟件工具從這些值得出耦合系數(shù)。

電氣和機電性能疲勞。

作為電氣薄膜測試的創(chuàng)新者，aixACCT Systems已將*的雙光束技術(shù)擴展到可商用的雙光束激光干涉儀系統(tǒng)，該系統(tǒng)可進行長達8英寸的晶圓表征。用于測量d33的雙光束激光干涉儀（aixDBLI）可提供經(jīng)過驗證的精度（x切割石英），可達0.2 pm / V。該系統(tǒng)的主要特點是單次測量的采集時間極短，僅為幾秒鐘?；谛碌臄?shù)據(jù)采集算法，測量速度提高了100倍。這使得比較了以相同激勵頻率記錄的薄膜的電氣和機械數(shù)據(jù)。由于差分測量原理，消除了樣品彎曲的影響，這是使用原子力顯微鏡（AFM）進行此類測量的主要障礙。

產(chǎn)品參數(shù)

分辨率：1 pm通過x-cut Quartz測試

位移/應(yīng)變測量：

50 Hz-5 kHz

100 mV至10 V

Max.25 V（可選）

壓電d33系數(shù)：

偏壓（1 mHz至1 Hz）：100 mV至10 V

Max.25 V（可選）

小信號（1 kHz至10 kHz）：100 mV至10 V

電致伸縮M33：與d33相似

C（V）測量：