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場發(fā)射掃描電子顯微鏡Regulus8200（冷場）（日立）

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更新時間：2023-05-31 16:44:19瀏覽次數(shù)：201次

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產(chǎn)品簡介

場發(fā)射掃描電子顯微鏡Regulus8200（冷場）（日立）Regulus系列是日立的FE-SEM的全新品牌，包括作為SU8010的后續(xù)機型開發(fā)的Regulus8100以及SU8200系列的升級Regulus8220Regulus8230Regulus8240，共4個機型，均實現(xiàn)了分辨率和操作性的強化

詳細介紹

場發(fā)射掃描電子顯微鏡Regulus8200（冷場）（日立）

"Regulus系列"是日立的FE-SEM的全新品牌，包括作為SU8010的后續(xù)機型開發(fā)的 "Regulus8100" 以及SU8200系列的升級 "Regulus8220" "Regulus8230" "Regulus8240"，共4個機型，均實現(xiàn)了分辨率和操作性的強化。

掃描電子顯微鏡（SEM）被廣泛應(yīng)用于納米技術(shù)，半導(dǎo)體?電子行業(yè)，生命科學(xué)，材料科學(xué)等領(lǐng)域的材料結(jié)構(gòu)觀察。近年來，新一代的電子器件應(yīng)用中受到廣泛期待的新型碳材料，高分子材料，復(fù)合材料等的研究作為*科學(xué)技術(shù)的中堅技術(shù)，在范圍內(nèi)受到熱捧。掃描電子顯微鏡廣泛用于這些材料的觀察?評價，但僅僅具有超高分辨率還遠遠不夠。還要求能在低加速電壓下對表面細微結(jié)構(gòu)的觀察和高靈敏度的元素分析。除此之外，在長期的研究過程中還追求電鏡的性能的持續(xù)穩(wěn)定和信賴性。

本次發(fā)布的新品牌 "Regulus系列" 電子光學(xué)系統(tǒng)進行了化處理，使得著陸電壓在1kV時分辨率較前代機型提高了約20％。"Regulus8220/8230/8240"達到0.9nm，"Regulus8100"為1.1 nm的分辨率。另外，低加速電壓下高分辨觀察的冷場電子槍可將樣品的細節(jié)放大，并獲得高質(zhì)量的圖片。放大倍率也由之前的100萬倍提高到了200萬倍。
除此之外，為了能更好的應(yīng)對不同樣品的測試和保持并發(fā)揮出高性能，還對用戶輔助工能進行了強化，如信號檢測系統(tǒng)的操作輔助功能，維護輔助功能等。

主要特點

1. 搭載了色差極小的適合低加速電壓高分辨率觀察的冷場電子槍

2. 跟前代機型相比分辨率大約提高了20%
（Regulus8220/8230/8240：0.9 nm/1 kV，Regulus8100：1.1 nm/1 kV）

3. 倍率從原來的100萬倍提高到200萬倍^*1

4. 用戶輔助功能，幫助用戶把儀器的高性能發(fā)揮出來

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