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北京合能陽(yáng)光新能源技術(shù)有限公司

  • PL光致發(fā)光測(cè)試系統(tǒng)：NIR-PLuS-B

    產(chǎn)品介紹：NIR-PLUS/B檢測(cè)系統(tǒng)是一款光伏檢測(cè)的綜合分析系統(tǒng)，既采用紅外技術(shù)對(duì)裂紋，孔洞，微結(jié)晶，雜質(zhì)和其他硬質(zhì)點(diǎn)等進(jìn)行檢測(cè)，又使用PL（光致發(fā)光）技術(shù)對(duì)...
    型號(hào)： 所在地： 參考價(jià)： 面議 更新時(shí)間：2022/3/13 11:08:53 對(duì)比

  • 太陽(yáng)能電池和組件在線檢測(cè)系統(tǒng)：PV-LIT

    產(chǎn)品介紹:PV-LIT太陽(yáng)能電池和組件在線檢測(cè)系統(tǒng)可對(duì)太陽(yáng)能電池及完整的太陽(yáng)能組件的各種缺陷進(jìn)行全自動(dòng)檢測(cè)
    型號(hào)： 所在地： 參考價(jià)： 面議 更新時(shí)間：2022/3/13 11:07:12 對(duì)比

  • 太陽(yáng)能電池量子效率測(cè)試儀：PVE300

    產(chǎn)品介紹:我公司銷售的PVE300是基于Bentham公司專業(yè)的技術(shù)及25年的行業(yè)經(jīng)驗(yàn)，PVE300能夠快速并準(zhǔn)確的給出分析數(shù)據(jù)，是經(jīng)過市場(chǎng)檢驗(yàn)的被廣泛應(yīng)用的的...
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  • 太陽(yáng)能電池量子效率測(cè)試儀：PH-IQE200

    產(chǎn)品介紹:PH-IQE200為太陽(yáng)能電池光譜響應(yīng)測(cè)試，或稱量子效率QE（QuantumEfficiency）測(cè)試，或光電轉(zhuǎn)化效率IPCE(Monohromati...
    型號(hào)： 所在地： 參考價(jià)： 面議 更新時(shí)間：2022/3/13 11:04:37 對(duì)比

  • AA*太陽(yáng)能模擬器：SS50AAA-PLC

    產(chǎn)品介紹:美國(guó)進(jìn)口SS50AAA-PLC太陽(yáng)模擬器是當(dāng)今高等級(jí)的太陽(yáng)能模擬器，的用來模擬太陽(yáng)輻照度和頻譜的設(shè)備
    型號(hào)： 所在地： 參考價(jià)： 面議 更新時(shí)間：2022/3/12 11:55:32 對(duì)比

  • 太陽(yáng)能電池I-V特性分析系統(tǒng)：PET-CC

    產(chǎn)品介紹:太陽(yáng)能光伏電池的所有性能表征手段中，IV特性測(cè)試無疑是最直觀、效、最被廣泛應(yīng)用的一種方法
    型號(hào)： 所在地： 參考價(jià)： 面議 更新時(shí)間：2022/3/12 11:53:25 對(duì)比

  • 激光橢偏儀：PH-LE

    多角度激光橢偏儀(PH-LE型)專門針對(duì)晶硅太陽(yáng)能電池絨面上的減反膜測(cè)量，能夠測(cè)量薄膜厚度及其光學(xué)常數(shù)，使用632.8nm波長(zhǎng)氦氖激光器，具有*的精確度和準(zhǔn)確度
    型號(hào)： 所在地： 參考價(jià)： 面議 更新時(shí)間：2022/3/12 11:51:29 對(duì)比

  • 光譜橢偏儀：PH-SE

    光譜橢偏儀(PH-SE型)針對(duì)太陽(yáng)能電池應(yīng)用，可測(cè)量多晶硅/單晶硅絨面表面單層（二層或多層）減反射膜、和玻璃/有機(jī)基底上的薄膜太陽(yáng)能電池
    型號(hào)： 所在地： 參考價(jià)： 面議 更新時(shí)間：2022/3/12 11:49:44 對(duì)比

  • 全自動(dòng)光譜橢偏儀：PH-ASE

    全自動(dòng)光譜橢偏儀(PH-ASE型)把使用者從煩瑣的手動(dòng)調(diào)節(jié)樣品高度和傾斜度工作中解放出來，樣品對(duì)準(zhǔn)是為了保證橢偏儀測(cè)量的可重復(fù)性和精確性
    型號(hào)： 所在地： 參考價(jià)： 面議 更新時(shí)間：2022/3/12 11:46:35 對(duì)比

  • 無接觸少子壽命測(cè)試儀：HS-SIM

    合能陽(yáng)光無接觸少子壽命測(cè)試儀(MWR-SIM)，是一款功能強(qiáng)大的無接觸少子壽命測(cè)試儀，能夠?qū)尉Ч璋簟⒍嗑Ч鑹K及硅片提供快速、無接觸、無損傷單點(diǎn)少子壽命測(cè)試，其...
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  • 金屬四探針電阻率方阻測(cè)試儀：HS-MPRT-5

    產(chǎn)品介紹:陽(yáng)光的金屬四探頭電阻率方阻測(cè)試儀（HS-MPRT-5）是用來測(cè)量硅晶塊、晶片電阻率及擴(kuò)散層、外延層、ITO導(dǎo)電箔膜、導(dǎo)電橡膠等材料方塊電阻的小型儀器....
    型號(hào)： 所在地： 參考價(jià)： 面議 更新時(shí)間：2022/3/12 11:13:08 對(duì)比

  • 硅材料碳氧含量測(cè)試儀：HS-OCT-2000

    產(chǎn)品特點(diǎn)：■適合于硅材料的氧、碳含量的測(cè)定
    型號(hào)： 所在地： 參考價(jià)： 面議 更新時(shí)間：2022/3/12 11:11:25 對(duì)比

  • 硅片缺陷觀測(cè)儀：HS-WDI

    產(chǎn)品介紹：硅片缺陷觀測(cè)儀(HS-WDI)，于對(duì)硅片的缺陷進(jìn)行觀察，效果非常明顯，包括肉眼無法觀測(cè)的位錯(cuò)、層錯(cuò)、劃痕、崩邊等
    型號(hào)： 所在地： 參考價(jià)： 面議 更新時(shí)間：2022/3/12 11:09:50 對(duì)比

  • 半自動(dòng)無接觸硅片測(cè)試儀：HS-NCS-200SA

    半自動(dòng)無接觸硅片測(cè)試儀(HS-NCS-200SA型)可以測(cè)量硅片厚度、總厚度變化TTV、彎曲度、翹曲度、單點(diǎn)和總體平整度，該儀器適用于Si，GaAs，InP，G...
    型號(hào)： 所在地： 參考價(jià)： 面議 更新時(shí)間：2022/3/12 11:06:55 對(duì)比

  • HS-NCS-200非接觸厚度電阻率測(cè)試儀

    HS-NCS-200非接觸厚度電阻率測(cè)試儀一、測(cè)試原理1、電阻率測(cè)試探頭原理電阻率測(cè)試模塊是由一對(duì)共軸渦流傳感器，以及后續(xù)的處理電路組成
    型號(hào)： 所在地： 參考價(jià)： 面議 更新時(shí)間：2022/3/12 10:54:31 對(duì)比
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