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北京合能陽(yáng)光新能源技術(shù)有限公司

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硅料檢測(cè): 缺陷檢測(cè)

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硅材料紅外探傷儀
主要探測(cè)指標(biāo)：裂縫，黑點(diǎn)，夾雜(通常為SiC)，隱裂，微晶
型號(hào)：所在地：北京市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2022/8/3 13:42:16 對(duì)比

硅材料檢測(cè)多晶硅檢測(cè)紅外探測(cè)
HS-WDI-2000系列研究級(jí)數(shù)碼3D金相顯微鏡
北京合能陽(yáng)光新能源技術(shù)有限公司成功地設(shè)計(jì)開發(fā)出高性能HS-WDI-2000型高級(jí)數(shù)碼正置金相顯微鏡。選用優(yōu)質(zhì)的光學(xué)元件，使它具有出色的光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計(jì)，可獲得高清晰...
型號(hào)：所在地：北京市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2022/7/8 14:02:51 對(duì)比

半導(dǎo)體研究級(jí)數(shù)碼3D金相顯微鏡
紅外探傷測(cè)試儀
可從四個(gè)方向進(jìn)行自動(dòng)取樣■ 可快速進(jìn)行樣塊的快速測(cè)量■ 軟件會(huì)對(duì)探測(cè)結(jié)果進(jìn)行評(píng)價(jià)■ 可對(duì)檢測(cè)參數(shù)進(jìn)行靈活設(shè)置■ 可進(jìn)行像素管理和圖像處理■ 系統(tǒng)將對(duì)探測(cè)結(jié)果進(jìn)行...
型號(hào)：所在地：北京市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2018/2/28 2:04:57 對(duì)比

硅材料檢測(cè)多晶硅檢測(cè)紅外探測(cè)
多晶硅料檢測(cè)紅外探測(cè)儀
可從四個(gè)方向進(jìn)行自動(dòng)取樣■ 可快速進(jìn)行樣塊的快速測(cè)量■ 軟件會(huì)對(duì)探測(cè)結(jié)果進(jìn)行評(píng)價(jià)■ 可對(duì)檢測(cè)參數(shù)進(jìn)行靈活設(shè)置■ 可進(jìn)行像素管理和圖像處理■ 系統(tǒng)將對(duì)探測(cè)結(jié)果進(jìn)行...
型號(hào)： NIR-01-3D 所在地：北京市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2018/2/20 13:06:48 對(duì)比

硅料檢測(cè)多晶硅檢測(cè)紅外探測(cè)
雜質(zhì)含量測(cè)試儀（元素含量分析）
適合于對(duì)晶體進(jìn)行雜質(zhì)含量測(cè)試，其主要用途是對(duì)樣品中包括Si、Fe、Mg、Ca、Ti、Na、Cu、Pb在內(nèi)的多種個(gè)元素進(jìn)行分析。
型號(hào)：所在地：北京市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2017/12/19 11:42:15 對(duì)比

藍(lán)寶石原料雜質(zhì)含量分析元素含量分析
RA2000圓度測(cè)試儀
RA2000是一種操作簡(jiǎn)便的測(cè)量?jī)x，用于對(duì)工件的幾何尺寸特別是圓度進(jìn)行精確測(cè)量。此設(shè)備保證測(cè)量的準(zhǔn)確性，為產(chǎn)品品質(zhì)提供專業(yè)的保障。
型號(hào)：所在地：北京市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2017/12/5 10:24:33 對(duì)比

圓度測(cè)試
HS-CA2半自動(dòng)硅片厚度TTV測(cè)試儀
適用于硅片等各種材料的厚度TTV精確測(cè)量
型號(hào)：所在地：北京市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2015/6/22 5:45:47 對(duì)比

硅片厚度TTV測(cè)試儀
HS-T50無(wú)接觸厚度TTV電阻率綜合測(cè)試系統(tǒng)
HS-T50無(wú)接觸厚度TTV電阻率綜合測(cè)試系統(tǒng)是一款廣泛應(yīng)用于太陽(yáng)能電池片制造過(guò)程中對(duì)表面厚度TTV電阻率無(wú)損測(cè)量的專業(yè)儀器。該儀器適用于Si，GaAs，InP...
型號(hào)：所在地：北京市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2014/12/29 12:31:30 對(duì)比

無(wú)接觸厚度TTV電阻率綜合測(cè)試系統(tǒng)