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硅材料紅外探傷儀
主要探測指標(biāo)：裂縫，黑點(diǎn)，夾雜(通常為SiC)，隱裂，微晶
型號(hào)：所在地：北京市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2022/8/3 13:42:16 對比

硅材料檢測多晶硅檢測紅外探測
HS-WDI-2000系列研究級(jí)數(shù)碼3D金相顯微鏡
北京合能陽光新能源技術(shù)有限公司成功地設(shè)計(jì)開發(fā)出高性能HS-WDI-2000型高級(jí)數(shù)碼正置金相顯微鏡。選用優(yōu)質(zhì)的光學(xué)元件，使它具有出色的光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計(jì)，可獲得高清晰...
型號(hào)：所在地：北京市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2022/7/8 14:02:51 對比

半導(dǎo)體研究級(jí)數(shù)碼3D金相顯微鏡
紅外探傷測試儀
可從四個(gè)方向進(jìn)行自動(dòng)取樣■ 可快速進(jìn)行樣塊的快速測量■ 軟件會(huì)對探測結(jié)果進(jìn)行評價(jià)■ 可對檢測參數(shù)進(jìn)行靈活設(shè)置■ 可進(jìn)行像素管理和圖像處理■ 系統(tǒng)將對探測結(jié)果進(jìn)行...
型號(hào)：所在地：北京市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2018/2/28 2:04:57 對比

硅材料檢測多晶硅檢測紅外探測
多晶硅料檢測紅外探測儀
可從四個(gè)方向進(jìn)行自動(dòng)取樣■ 可快速進(jìn)行樣塊的快速測量■ 軟件會(huì)對探測結(jié)果進(jìn)行評價(jià)■ 可對檢測參數(shù)進(jìn)行靈活設(shè)置■ 可進(jìn)行像素管理和圖像處理■ 系統(tǒng)將對探測結(jié)果進(jìn)行...
型號(hào)： NIR-01-3D 所在地：北京市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2018/2/20 13:06:48 對比

硅料檢測多晶硅檢測紅外探測
雜質(zhì)含量測試儀（元素含量分析）
適合于對晶體進(jìn)行雜質(zhì)含量測試，其主要用途是對樣品中包括Si、Fe、Mg、Ca、Ti、Na、Cu、Pb在內(nèi)的多種個(gè)元素進(jìn)行分析。
型號(hào)：所在地：北京市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2017/12/19 11:42:15 對比

藍(lán)寶石原料雜質(zhì)含量分析元素含量分析
RA2000圓度測試儀
RA2000是一種操作簡便的測量儀，用于對工件的幾何尺寸特別是圓度進(jìn)行精確測量。此設(shè)備保證測量的準(zhǔn)確性，為產(chǎn)品品質(zhì)提供專業(yè)的保障。
型號(hào)：所在地：北京市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2017/12/5 10:24:33 對比

圓度測試
HS-CA2半自動(dòng)硅片厚度TTV測試儀
適用于硅片等各種材料的厚度TTV精確測量
型號(hào)：所在地：北京市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2015/6/22 5:45:47 對比

硅片厚度TTV測試儀
HS-T50無接觸厚度TTV電阻率綜合測試系統(tǒng)
HS-T50無接觸厚度TTV電阻率綜合測試系統(tǒng)是一款廣泛應(yīng)用于太陽能電池片制造過程中對表面厚度TTV電阻率無損測量的專業(yè)儀器。該儀器適用于Si，GaAs，InP...
型號(hào)：所在地：北京市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2014/12/29 12:31:30 對比

無接觸厚度TTV電阻率綜合測試系統(tǒng)

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北京合能陽光新能源技術(shù)有限公司

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