北京中海遠(yuǎn)創(chuàng)材料科技有限公司
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詳細(xì)摘要： 科磊公司G200X型第六代原位納米力學(xué)測(cè)試系統(tǒng)在微/納尺度范圍內(nèi)的加載和位移構(gòu)成精確的力學(xué)測(cè)試應(yīng)用應(yīng)用––半導(dǎo)體器件,薄膜––硬質(zhì)涂層,DLC薄膜––復(fù)合材料,...
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：更新時(shí)間：2023-06-30 在線(xiàn)留言
詳細(xì)摘要： InSEM系列系列產(chǎn)品既可以工作在真空環(huán)境下，如與SEM或FIB結(jié)合進(jìn)行各種原位測(cè)試；也可以直接在大氣環(huán)境下測(cè)試樣品的硬度、楊氏模量或者其它物理力學(xué)性能，如直接...
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：更新時(shí)間：2023-06-30 在線(xiàn)留言
詳細(xì)摘要： KLA是半導(dǎo)體在線(xiàn)檢測(cè)設(shè)備市場(chǎng)較大的供應(yīng)商，在半導(dǎo)體、數(shù)據(jù)存儲(chǔ)、MEMS、太陽(yáng)能、光電子以及其他領(lǐng)域中有著的
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：更新時(shí)間：2023-06-30 在線(xiàn)留言
詳細(xì)摘要： KLA-公司擁有最多的形貌學(xué)核心技術(shù),并不斷推出更多更新更便于操作的形貌學(xué)測(cè)量產(chǎn)品
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詳細(xì)摘要： InSEM系列系列產(chǎn)品既可以工作在真空環(huán)境下，如與SEM或FIB結(jié)合進(jìn)行各種原位測(cè)試；也可以直接在大氣環(huán)境下測(cè)試樣品的硬度、楊氏模量或者其它物理力學(xué)性能，如直接...
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詳細(xì)摘要： iNano采用InForce50驅(qū)動(dòng)器進(jìn)行納米壓痕和通用納米機(jī)械測(cè)試（iMicro采用InForce1000驅(qū)動(dòng)器）
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詳細(xì)摘要： KLA是半導(dǎo)體在線(xiàn)檢測(cè)設(shè)備市場(chǎng)較大的供應(yīng)商，在半導(dǎo)體、數(shù)據(jù)存儲(chǔ)、MEMS、太陽(yáng)能、光電子以及其他領(lǐng)域中有著的
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詳細(xì)摘要： Alpha-StepD-300探針式輪廓儀支持臺(tái)階高度、粗糙度、翹曲度和應(yīng)力的2D測(cè)量
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：更新時(shí)間：2023-01-30 在線(xiàn)留言
詳細(xì)摘要： 產(chǎn)品描述P-170是cassette-to-cassette探針式輪廓儀，將行業(yè)的P-17臺(tái)式系統(tǒng)的測(cè)量性能和經(jīng)過(guò)生產(chǎn)驗(yàn)證的HRP®-260的機(jī)械傳送臂...
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：更新時(shí)間：2023-01-05 在線(xiàn)留言
詳細(xì)摘要： 產(chǎn)品描述P-17臺(tái)式探針式輪廓儀是第八代臺(tái)式探針輪廓儀，是40多年的表面量測(cè)經(jīng)驗(yàn)的結(jié)晶
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：更新時(shí)間：2023-01-04 在線(xiàn)留言
詳細(xì)摘要： 產(chǎn)品描述Alpha-StepD-600探針式輪廓儀支持臺(tái)階高度和粗糙度的2D及3D測(cè)量，以及翹曲度和應(yīng)力的2D測(cè)量
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：更新時(shí)間：2023-01-03 在線(xiàn)留言
詳細(xì)摘要： 產(chǎn)品描述P-7臺(tái)式探針式輪廓儀支持從幾納米到一毫米的臺(tái)階高度測(cè)量，適用于生產(chǎn)和研發(fā)環(huán)境
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：更新時(shí)間：2023-01-02 在線(xiàn)留言
詳細(xì)摘要： 產(chǎn)品描述Alpha-StepD-500探針式輪廓儀支持臺(tái)階高度、粗糙度、翹曲度和應(yīng)力的2D測(cè)量
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：更新時(shí)間：2023-01-01 在線(xiàn)留言
詳細(xì)摘要： 產(chǎn)品描述HRP®-260是一款高分辨率cassette-to-cassette探針式輪廓儀
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：更新時(shí)間：2022-12-31 在線(xiàn)留言
詳細(xì)摘要： 產(chǎn)品描述Zeta-388光學(xué)輪廓儀是一種非接觸式3D表面形貌測(cè)量系統(tǒng)
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：更新時(shí)間：2022-12-30 在線(xiàn)留言
詳細(xì)摘要： 產(chǎn)品描述Zeta-300光學(xué)輪廓儀是一種非接觸式3D表面形貌測(cè)量系統(tǒng)
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：更新時(shí)間：2022-12-29 在線(xiàn)留言
詳細(xì)摘要： 產(chǎn)品描述Zeta-20臺(tái)式光學(xué)輪廓儀的配置靈活并易于使用，并集合了六種不同的光學(xué)量測(cè)技術(shù)
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：更新時(shí)間：2022-12-28 在線(xiàn)留言
詳細(xì)摘要： 產(chǎn)品描述MicroXAM-800光學(xué)輪廓儀是一種非接觸式3D表面形貌測(cè)量系統(tǒng)
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：更新時(shí)間：2022-12-27 在線(xiàn)留言
詳細(xì)摘要： 產(chǎn)品描述高溫SEM原位納米壓痕儀——InSEM®HT高溫測(cè)試系統(tǒng)可在真空環(huán)境中對(duì)壓頭和樣品分別獨(dú)立進(jìn)行加熱，并與許多SEM/FIB工作室或獨(dú)立真空工作室...
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：更新時(shí)間：2022-10-15 在線(xiàn)留言
詳細(xì)摘要： 產(chǎn)品描述常溫SEM原位納米壓痕儀——NanoFlip納米壓痕儀提供高精度XYZ位移，可定位樣品進(jìn)行測(cè)試，還提供翻轉(zhuǎn)機(jī)制，可定位樣品進(jìn)行成像
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：更新時(shí)間：2022-10-14 在線(xiàn)留言您感興趣的產(chǎn)品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
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